[发明专利]一种形变测量系统及方法

说明书

本发明涉及一种形变测量系统及方法，当待测二维平面结构为雷达的天线阵面时，将二维平面部件相对于雷达的天线阵面设置，多个激光位移传感器均按照预设频率采集雷达的天线阵面的不同位置的测量信号并发送至控制器，控制器根据每个激光位移传感的测量信号，得到雷达的天线阵面的不同位置在不同时刻的形变量，能准确地获取待测二维平面结构的不同位置在不同时刻的形变量，即能准确地获取天线阵面在实际使用过程中的实时的变形量，可以依据实时的变形量为数据处理过程中的误差补偿环节提供数据支持，进而保证了雷达的天线阵面对目标的探测精度。

技术领域

本发明涉及结构形变测量技术领域，尤其涉及一种形变测量系统及方法。

背景技术

随着国防和军队现代化建设水平的不断提高，军事装备向着自动化、智能化的方向发展，机电一体化机动装备如雷达、通信装备的使用，大幅度提升了部队机动化作战能力。雷达作为一种对目标进行远距离探测的装备，其性能对国家的防空、反舰与反导等能力产生重大的影响。

其中，雷达的天线阵面结构如相控阵雷达天线阵面结构在重力、风载、温度等因素的影响下，会产生一定程度的随机变形，而结构变形会对雷达的整体探测精度产生重大影响。随着对装备性能需求的提升，雷达的天线阵面结构朝着大型化、高精度的方向发展，尤其是相控阵雷达天线阵面，其天线阵面的口径可达到数十米的尺寸，整体天线阵面的面积高达数百平米，相控阵面阵子处理单元数量以万计，这些均要求天线阵面的安装基础具有极高的阵面精度。而当天线阵面在安装、使用过程中因为自重、风载、温度等因素产生干扰时，天线阵面会发生一定量的变形，进而导致天线阵面之间产生一定的相位误差，直接影响天线阵面的无线电波的发射与接受信号的质量，最终导致天线阵面对目标的整体探测精度下降。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供了一种形变测量系统及方法。

本发明的一种形变测量系统的技术方案如下：

包括控制器、二维平面部件和多个激光位移传感器，多个所述激光位移传感器阵列排布在所述二维平面部件上；

多个所述激光位移传感器用于当所述二维平面部件相对于待测二维平面结构设置时，均按照预设频率采集所述待测二维平面结构的不同位置的测量信号并发送至所述控制器；

所述控制器用于根据每个所述激光位移传感的测量信号，得到所述待测二维平面结构的不同位置在不同时刻的形变量。

本发明的一种形变测量系统的有益效果如下：

当待测二维平面结构为雷达的天线阵面时，将二维平面部件相对于雷达的天线阵面设置，多个激光位移传感器均按照预设频率采集雷达的天线阵面的不同位置的测量信号并发送至控制器，控制器根据每个激光位移传感的测量信号，得到雷达的天线阵面的不同位置在不同时刻的形变量，能准确地获取待测二维平面结构的不同位置在不同时刻的形变量，即能准确地获取天线阵面在实际使用过程中的实时的变形量，可以依据实时的变形量为数据处理过程中的误差补偿环节提供数据支持，进而保证了雷达的天线阵面对目标的探测精度。

在上述方案的基础上，本发明的一种形变测量系统还可以做如下改进。

进一步，所述控制器包括控制芯片和A/D转换模块，所述控制器具体用于：

通过所述A/D转换模块将每个测量信号进行A/D转换，得到每个测量信号一一对应的数字量信号，并将每个数字量信号发送至所述控制芯片；

通过所述控制芯片根据每个所述数字量信号得到所述待测二维平面结构的不同位置在不同时刻的形变量。

采用上述进一步方案的有益效果是：由于激光位移传感器所采集的测量信号均为模拟量信号，通过A/D转换模块能将为模拟量信号的测量信号转换为一一对应的数字量信号，便于控制芯片进行处理。

进一步，所述控制芯片具体用于：