[发明专利]一种接近感应检测方法及装置、电子设备在审

专利信息
申请号: 202010864810.7 申请日: 2020-08-25
公开(公告)号: CN111998764A 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 吴孝红;张忠 申请(专利权)人: 上海艾为电子技术股份有限公司
主分类号: G01B7/14 分类号: G01B7/14;G01V3/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆宗力
地址: 201199 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 接近 感应 检测 方法 装置 电子设备
【权利要求书】:

1.一种接近感应检测方法,应用于电子设备,其特征在于,该方法包括:

获取接近物体与所述电子设备在当前间距时对应的电容变化量;

判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值时,根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据;

根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

2.根据权利要求1所述的接近感应检测方法,其特征在于,根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据包括:

判断所述电容变化量对应于第一电容范围至第N电容范围中第i电容范围中,N为大于或等于2的整数,i为小于N的正整数;

根据所述第i电容范围确定相应的接近物体的类型数据,其中,所述第一电容范围至第N电容范围中每一电容范围分别对应一接近物体的类型数据。

3.根据权利要求1所述的接近感应检测方法,其特征在于,在判断所述电容变化量大于或等于接近阈值后,且确定所述接近物体的类型数据前,还包括:

判断所述电容变化量大于或等于接近阈值的持续时间,若所述持续时间大于或等于阈值时间,则根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据;若所述持续时间预设时间小于所述阈值时间,则确定为误操作。

4.一种接近感应检测装置,应用于电子设备,所述电子设备包括主机,其特征在于,所述装置包括:

获取单元,所述获取单元用于获取接近物体与所述电子设备在当前间距时对应的电容变化量;

处理单元,所述处理单元用于判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值时,根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据;

以及,上报单元,所述上报单元用于将所述接近物体的类型数据上报至所述主机,所述主机根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

5.根据权利要求4所述的接近感应检测装置,其特征在于,所述处理单元包括:

判断模块,所述判断模块用于判断所述电容变化量大于或等于接近阈值时,判断所述电容变化量处于第一电容范围至第N电容范围中第i电容范围中,N为大于或等于2的整数,i为小于或等于N的正整数

以及,确定模块,所述确定模块用于根据所述第i电容范围确定相应的接近物体的类型数据,其中,所述第一电容范围至第N电容范围中每一电容范围分别对应一接近物体的类型数据。

6.根据权利要求4所述的接近感应检测装置,其特征在于,所述处理单元还包括:

计时判断模块,所述计时判断模块用于在所述处理单元判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值后,且确定所述接近物体的类型数据前,判断所述电容变化量大于或等于接近阈值的持续时间,若所述持续时间大于或等于阈值时间,则根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据;若所述持续时间预设时间小于所述阈值时间,则确定为误操作。

7.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括电容传感器及处理器;

所述电容传感器用于接近物体与所述电子设备在当前间距下检测产生的电容变化;

所述处理器用于获取所述电容传感器的电容变化量,且判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值时,根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据;以使得电子设备根据所述接近物体的类型数据进行预定控制处理。

8.根据权利要求7所述的电子设备,其特征在于,所述处理器和所述电容传感器集成于电容检测芯片中,所述电容检测芯片还包括第一上报单元,用于发送所述接近物体的类型数据;

所述电子设备还包括主机,所述主机用于接收所述第一上报单元发送的所述接近物体的类型数据,根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

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