[发明专利]显示面板缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种显示面板缺陷检测方法，其特征在于，所述显示面板缺陷检测方法包括：

将待检测面板图像输入面板缺陷分割模型，以供所述面板缺陷分割模型对所述待检测面板图像进行卷积处理，并对卷积结果进行不同次数的下采样，得到若干下采样结果，分别对每个下采样结果经过密集连接生成的数据进行加权处理，对加权处理后的数据进行求和处理，以求和处理得到的结果为面板缺陷分割结果，并输出所述面板缺陷分割结果，每个下采样结果经过密集连接生成的数据对应的权值，根据其对应的下采样次数确定，下采样次数越少，权值越大，所述待检测面板图像的像素大小为K*K；

显示所述面板缺陷分割结果。

2.如权利要求1所述的显示面板缺陷检测方法，其特征在于，在所述将待检测面板图像输入面板缺陷分割模型的步骤之前，还包括：

获取N张面板图像，对每张面板图像进行预处理，将预处理后的每张面板图像裁剪为M个像素大小为K*K的子图像，N、M均为正整数；

采用图像语义分割标注工具对每张子图像中的缺陷区域进行标注，得到N*M个标注子图像；

将每张子图像以及与其对应的标注子图像作为一图像对，得到N*M个图像对，将N*M个图像对中的部分作为训练集，其他的作为测试集；

通过所述训练集对深度学习语义分割模型进行训练，通过所述测试集对训练得到的深度学习语义分割模型进行验证，直至得到符合预设精度的深度学习语义分割模型，并以所述符合预设精度的深度学习语义分割模型作为面板缺陷分割模型。

3.如权利要求2所述的显示面板缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷区域的面积小于30个像素。

4.一种显示面板缺陷检测装置，其特征在于，所述显示面板缺陷检测装置包括：

输入模块，用于将待检测面板图像输入面板缺陷分割模型，以供所述面板缺陷分割模型对所述待检测面板图像进行卷积处理，并对卷积结果进行不同次数的下采样，得到若干下采样结果，分别对每个下采样结果经过密集连接生成的数据进行加权处理，对加权处理后的数据进行求和处理，以求和处理得到的结果为面板缺陷分割结果，并输出所述面板缺陷分割结果，每个下采样结果经过密集连接生成的数据对应的权值，根据其对应的下采样次数确定，下采样次数越少，权值越大，所述待检测面板图像的像素大小为K*K；

显示模块，用于显示所述面板缺陷分割结果。

5.一种显示面板缺陷检测设备，其特征在于，所述显示面板缺陷检测设备包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的显示面板缺陷检测程序，其中所述显示面板缺陷检测程序被所述处理器执行时，实现如权利要求1至3中任一项所述的显示面板缺陷检测方法的步骤。

6.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有显示面板缺陷检测程序，其中所述显示面板缺陷检测程序被处理器执行时，实现如权利要求1至3中任一项所述的显示面板缺陷检测方法的步骤。