[发明专利]一种装置内部表面温度的测量方法及测量设备

权利要求书

1.一种装置内部表面温度的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

S01:红外测温仪的透过率及发射率校准

S011:调整红外测温仪的高度h和倾斜角度W，确保红外测温仪指示光斑能够完整覆盖所述恒温加热平台上的测温表面；

S012:恒温加热平台开启加热，预设加热温度为T0，待恒温加热平台显示测量温度达到预设温度T0并稳定后，调整红外测温仪的发射率E0，使红外测温仪的测试温度等于恒温加热平台的显示温度，记录此时红外测温仪的测试温度T1；

S013:标准光窗测试，将实验所用标准光窗置于恒温加热平台之上，使红外测温仪指示光斑透过标准光窗覆盖恒温加热台上的测温表面，保持红外测温仪的发射率E0不变，待红外测温仪的测试温度重新稳定后，调整红外测温仪的透过率参数，使红外测温仪的测试温度等于T1，记录此时红外测温仪的透过率S1；

S014:在标准光窗条件下使用标准测温片测试，将标准测温片平放于恒温加热平台上，使红外测温仪的指示光斑透过标准光窗完整覆盖标准测温片表面；开启电加热预热，待温度稳定后，调整红外测温仪的发射率，保持透过率为S1，使红外测温仪的测试温度等于T1，记录红外测温仪此时的发射率E1，即完成红外测温仪的校准；

S02：装置内部表面温度测量

S021:将标准测温片置于待测装置内，调整的红外测温仪高度h和倾斜角度W，保证红外测温仪的指示光斑能够完整覆盖装置内的标准测温片表面；

S022:将红外测温仪的透过率调为S1，发射率调为E1，启动装置控温功能，将温度升到预设温度T2，记下此时红外测温仪的测试温度T3，此时待测装置内部表面的实际温度就为T3，此时待测装置的误差温度为待测装置系统温度T2与装置内部表面实际温度T3对应关系为T2-T3。

2.根据权利要求1一种装置内部表面温度的测量方法，其特征在于，当更换待测装置内放置的所述标准测温片后且前后测温片材料不同，仅需重新调整红外测温仪的发射率；具体为先启动装置控温功能，将温度升到T2并稳定后，此时待测装置内部表面实际温度应为T3，调整红外测温仪发射率，使红外测温仪的测试温度等于T3，记录此时发射率E2，即完成红外测温仪新的参数校准。

3.根据权利要求1所述的一种装置内部表面温度的测量方法，其特征在于，所述S011与S013中，红外测温仪的指示光斑完整覆盖恒温工作台的中心区域；在所述S014中，所述标准测温片放置于恒温工作台的中心区域。

4.根据权利要求1所述的一种装置内部表面温度的测量方法，其特征在于，T0取红外测温仪量程的1/3-2/3。

5.根据权利要求1所述的一种装置内部表面温度的测量方法，其特征在于，所述标准光窗的与待测装置使用的标准光窗材质一致；所述标准测温片为特种纤维膜，所述标准光窗为耐高温光学镜片。

6.根据权利要求1所述的一种装置内部表面温度的测量方法，其特征在于，所述恒温加热平台具有控温功能及全铜或全铝耐高温加热板，控温范围30～550℃，控温精度±1℃。

7.根据权利要求1所述的一种装置内部表面温度的测量方法，其特征在于，T1、T2、T3均为红外测温仪量程的中间值。

8.一种用于装置内部表面温度测量的设备，其特征在于，包括具有温控功能的恒温加热平台(7)、红外测温仪(1)、标准测温片(4)及标准光窗(3)，所述标准光窗(3)可配合的置于所述恒温加热平台(7)上；所述红外测温仪(1)放置位置为其发出的指示光斑对应覆盖所述恒温加热平台(7)上的测温表面；所述标准测温片(4)可切换位于所述恒温加热平台(7)和所述装置内。