[发明专利]一种闪存芯片中块读取与页读取换算关系测试方法及系统

说明书

本发明提供了一种闪存芯片中块读取与页读取换算关系测试方法及系统，本发明通过选取测试点，分别进行块读取，记录误码率文件，并对在块中设置测试起点、测试终点以及测试步长，分别进行相应页读取次数的误码率文件记录，在页误码所占比率中找到最接近块误码所占比率时的页读取次数，从而完成块读取次数以及页读取次数的换算，可对处于生命周期不同状态的块计算出块读取与页读取的换算系数，在固件中可更准确的记录某个块、块读取的次数，从而达到门限值时对块中的数据进行搬移，减小硬解失败的概率，提高效率。

技术领域

本发明涉及服务器存储技术领域，特别是一种闪存芯片中块读取与页读取换算关系测试方法及系统。

背景技术

闪存芯片作为存储器件有很多优点，比如容量大、读写速度快、价格相对低廉等，在一些嵌入式产品、U盘、特别是SSD中得到大量应用。但是闪存芯片具有读干扰的特性，即随着块读取的次数增加，BER(Bit Error Rate，误码率)会升高，当读的次数达到一定值时，会导致ECC校验失败，出现数据失效，此时只能通过其他手段来对数据进行恢复，影响效率。为了减小错误恢复流程的调用次数，在对块读取的次数达到一定值时对数据进行一次搬移以消除干扰的影响。

闪存芯片厂商一般在定义读干扰可靠性时是按照块读取的次数来进行的，但是实际使用时，比如在SSD中，大部分应用场景是页读取，即很少会一次读取一个块的数据。所以就存在页读取次数到块读取次数的转换，从而判断是否达到数据搬移的门限值。

目前较为简单的做法是将块读取与页读取的权重视为相同，比如一个块中有1000个页，则1000次页读取转换为1次块读取，这种计算方式可大约估算出块读取的次数，但是结果准确度低。

发明内容

本发明的目的是提供一种闪存芯片中块读取与页读取换算关系测试方法及系统，旨在解决现有技术中页读取次数与块读取次数转换准确度低的问题，实现提高准确度，减小硬解失败的概率。

为达到上述技术目的，本发明提供了一种闪存芯片中块读取与页读取换算关系测试方法，所述方法包括以下操作：

S1、写入随机数得到测试样本块，对测试样本块进行M次块读取，记录BER 信息，保存文件为块读取误码率文件；

S2、确定测试起点数值、测试终点数值以及测试步长数值，在块中N个页中随机选取页，进行次数等于测试起点数值的页读取，记录BER信息并保存为一个页读取误码率文件；

S3、随机选取页，进行次数等于测试步长数值的页读取，记录BER信息并保存为一个页读取误码率文件；重复执行该步骤次；

S4、分析块读取误码率文件以及多个页读取误码率文件，设置误码率门限值，计算出块读取误码率文件中误码率大于门限值的数量以及所占比率P_br，作为参考值；计算每个页读取误码率文件中误码率大于门限值的数量以及所占比率P_pr_num，当P_br与P_pr_num的差值最小时，记录该页读取误码率文件下的页读取次数PR_num_similar；

S5、计算当前擦写次数下块读取与页读取的换算系数。

优选地，所述测试起点为0.5*M*N，所述测试终点为2*M*N，所述测试步长为10*N。

优选地，在所述页读取之前，需对测试样本块进行擦写一次，消除读干扰。

优选地，所述换算系数的计算公式为：

本发明还提供了一种闪存芯片中块读取与页读取换算关系测试系统，所述系统包括：

块读取模块，用于写入随机数得到测试样本，对测试样本块进行M次块读取，记录BER信息，保存文件为块读取误码率文件；