[发明专利]光学坯件在审

专利信息
申请号: 202010846893.7 申请日: 2020-08-21
公开(公告)号: CN112624622A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 龟卦川伸也;高田元生 申请(专利权)人: 日本电波工业株式会社
主分类号: C03C17/00 分类号: C03C17/00;C03C23/00;C03B32/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马爽;臧建明
地址: 日本东京涉谷区屉冢1-4*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光学
【说明书】:

本发明提供一种光学坯件,即便经过可靠性试验也不易产生龟裂等。光学坯件的平面形状为四方形状,具有第一主面及与所述第一主面为相反侧的第二主面。光学坯件包括:C面加工部,形成于四个角部;以及R面加工部,形成于C面加工部与将第一主面和第二主面相连的侧面交叉的部位。优选侧面的全部或一部分经C面加工或R面加工。

技术领域

本发明涉及一种用于电子光学机器等且包含晶体或光学玻璃等的光学滤光片等的光学坯件,且尤其涉及一种经倒角的光学坯件。

背景技术

对于光学滤光片等光学零件,通常进行倒角作业以使角部不破损。倒角作业通常有将角部切割为直线状的C倒角作业、和将角部切割为圆弧状的R倒角作业。从成本和作业工序的观点来看,不对光学坯件的所有角部(四个角部)实施R倒角作业。在对光学坯件的主面进行研磨时,预先进行C倒角而降低角部破损的可能性。

但是,若在将光学坯件的主面研磨后,为了进一步提高光学坯件的品质而实施热冲击(热激(heat shock))测试,则有时光学坯件会产生龟裂。具有这种龟裂的光学坯件成为不良品,成本变高,因而要求设法实现下述情况,即:即便对经研磨的光学坯件实施热冲击测试等可靠性试验,也不易产生龟裂。

[现有技术文献]

[专利文献]

[专利文献1]日本专利特开2011-27923号公报

发明内容

[发明所要解决的问题]

本实施方式所要解决的问题点在于提供一种光学坯件,即便经过可靠性试验也不易产生龟裂等。

[解决问题的技术手段]

本实施方式是一种光学坯件,平面形状为四方形状,具有第一主面及与所述第一主面为相反侧的第二主面。光学坯件包括:C面加工部,形成于四个角部;以及R面加工部,形成于C面加工部与将第一主面和第二主面相连的侧面交叉的部位。

而且,优选为R面加工部的曲率R相对于C面加工部的长度L的L:R为1:0.05至1:0.15的范围。

而且,优选为光学坯件的侧面的表面粗糙度为2.7μm以下。

进而优选为侧面的全部或一部分经C面加工或R面加工。

[发明的效果]

本实施方式的光学坯件有即便经过可靠性试验也不易产生龟裂的优点。

附图说明

图1的(a)为光学坯件10的侧面图,图1的(b)为光学坯件10的正面图。

图2的(a1)及图2的(a2)为光学坯件10的侧面的局部放大图,图2的(b)为光学坯件10的正面的局部放大图。

图3为表示从光学坯件的制造到可靠性试验的流程图。

图4的(a)为表示和C倒角与R倒角的比率有关的破损率的图表。图4的(b)为表示和侧面的表面粗糙度有关的破损率的图表。

[附图标记说明]

10:光学坯件

11a:第一主面

11b:第二主面

13(13a~13d):C倒角加工部(C面加工部)

13r:R倒角加工部(R面加工部)

15(15a~15d):侧面

CA:C倒角

L:长度

RA:R倒角

RB:曲率半径

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