[发明专利]一种基性岩中原位锆石的寻找方法有效
| 申请号: | 202010845752.3 | 申请日: | 2020-08-20 |
| 公开(公告)号: | CN111999325B | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
| 发明(设计)人: | 韦帅;邓宇峰 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
| 主分类号: | G01N23/203 | 分类号: | G01N23/203;G01N23/22 |
| 代理公司: | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 | 代理人: | 卢敏 |
| 地址: | 230009 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基性岩中 原位 寻找 方法 | ||
1.一种基性岩中原位锆石的寻找方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤1、将新鲜基性岩制成探针薄片;
步骤2、通过偏光显微镜在正交偏光和单偏光下对探针薄片进行观察,找出类似锆石矿物并在探针薄片中圈出相应位置;具体地,通过偏光显微镜观察探针薄片,是利用锆石在正交偏光下具有最高级干涉色三级~四级与多色性,并且在单偏光下可看到正极高突起的性质,使用偏光显微镜在探针薄片中寻找有类似特征的矿物;
步骤3、利用锆石在阴极射线激发下能发出亮白色、亮黄色、微黄色光的特征,通过偏光镜阴极发光仪观察所圈定位置的类似锆石矿物:若观察到明显的锆石阴极发光特征,则在所述探针薄片表面喷镀导电材料后直接进行步骤5;若未观察到明显的锆石阴极发光特征,则在所述探针薄片表面喷镀导电材料后进行步骤4;
步骤4、通过电子探针分析仪BSE成像观察所圈定位置的类似锆石矿物:若观察到锆石的BSE特性,则进行步骤5;若未观察到锆石的BSE特性,则判定所圈定位置并非锆石矿物;
步骤5、利用电子探针能谱仪对所圈定位置的类似锆石矿物进行分析,通过矿物成分确定其是否为锆石。
2.根据权利要求1所述的寻找方法,其特征在于:所述导电材料为碳。
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