[发明专利]一种多对磁瓦开路磁通测试用装置及测试方法

权利要求书

1.一种多对磁瓦开路磁通测试用装置，其特征在于，包括：

机壳；

底座，底座的内径大于机壳的外径，底座的外周面上设有第一安装凸台，底座的内周面上设有用以对机壳限位的支撑凸台；

外套，外套的内壁面上设有第二安装凸台，第一安装凸台的内壁面与第二安装凸台的外壁面螺纹旋转配合；

压环，压环沿其轴向包括连接部和定位部，连接部与外套远离第二安装凸台的一端可拆卸连接，定位部的一端与连接部相连，定位部的外径小于机壳的内径；

定位卡环，定位卡环沿其轴向包括本体和分隔件，若干个分隔件沿本体的周向间隔布置；

机壳的内壁面上设有用以对定位卡环限位的支撑平台，分隔件位于本体远离支撑平台的一侧；

磁瓦位于相邻两个分隔件之间。

2.根据权利要求1所述一种多对磁瓦开路磁通测试用装置，其特征在于，第一安装凸台靠近底座远离支撑凸台的一端，第一安装凸台的外壁面上设有第一螺纹，第二安装凸台呈环形柱状，第二安装凸台的内壁面上设有第二螺纹，第一螺纹和第二螺纹相匹配。

3.根据权利要求1所述一种多对磁瓦开路磁通测试用装置，其特征在于，外套沿其轴向远离第二安装凸台的端面上设有第一安装孔，连接部上设有与第一安装孔位置对应的第二安装孔，第二安装孔沿连接部的轴向贯通，连接部与外套通过螺栓相连。

4.根据权利要求1所述一种多对磁瓦开路磁通测试用装置，其特征在于，压环上设有第一过孔，第一过孔沿压环的轴向贯通，第一过孔的孔径大于或等于磁瓦的内径。

5.根据权利要求1所述一种多对磁瓦开路磁通测试用装置，其特征在于，本体上设有第二过孔，第二过孔沿本体的轴向贯通，第二过孔的孔径大于或等于磁瓦的内径。

6.根据权利要求1或2或3或4或5所述一种多对磁瓦开路磁通测试用装置，其特征在于，支撑平台上设有第三过孔，第三过孔沿支撑平台的轴向贯通，第三过孔的孔径大于磁瓦的内径。

7.根据权利要求1至5任意一项所述一种多对磁瓦开路磁通测试用装置，其特征在于，定位卡环、底座、外套和压环由铜、铝或不锈钢的不导磁材料制成。

8.根据权利要求1至5任意一项所述一种多对磁瓦开路磁通测试用装置，其特征在于，机壳由20#钢或45#钢的导磁材料制成。

9.一种利用权利要求6所述多对磁瓦开路磁通测试用装置的测试方法，其特征在于，包括如下顺序执行步骤：

（1）将定位卡环安装在机壳内的支撑平台上，调整定位卡环的位置使得第二过孔和第三过孔基本保持共轴；

（2）沿着机壳的内壁面将若干对已磁化的磁瓦按压于定位卡环底部，磁瓦按内弧面N、S极交错分布；

（3）将压环的定位部插入机壳并与磁瓦的上端抵接，使用螺栓将压环的连接部与外套固定；

（4）将机壳插入底座，再从机壳上部将已固定有压环的外套从上而下与底座旋紧，机壳的下端与支撑凸台抵接时安装完成；

（5）将测试夹具的引线与数字式磁通计相连并接通电源，将经步骤4组装完成的测试用装置从测试夹具上部插入，在测试夹具中插入或取出所述测试用装置，读取数字式磁通计的示值完成测试。