[发明专利]一种用于远紫外波段气辉探测的光度计及其探测方法在审
| 申请号： | 202010835880.X | 申请日： | 2020-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN114076636A | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 付利平;贾楠;王天放;彭如意;肖思;付建国;白雪松;李睿智 | 申请（专利权）人： | 中国科学院国家空间科学中心 |
| 主分类号： | G01J3/02 | 分类号： | G01J3/02;G01J3/28;G01N21/33 |
| 代理公司： | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人： | 武玥;张红生 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 紫外 波段 探测 光度计 及其 方法 | ||
1.一种用于远紫外波段气辉探测的光度计，包括离轴抛物面反射镜、透射式带通滤光片、长波通滤光片和光电倍增管，其特征在于，所述离轴抛物面反射镜、透射式带通滤光片、长波通滤光片和光电倍增管依次排序设置；其中，
所述离轴抛物面反射镜表面镀远紫外带通反射膜；
所述透射式带通滤光片的基底材料为MgF2晶体或LiF2晶体，在MgF2或LiF2晶体片表面镀多层膜，其中，多层膜的膜材料为Al和MgF2；
所述长波通滤光片为BaF2晶体窗口。
2.根据权利要求1所述的光度计，其特征在于，所述离轴抛物面反射镜镀多层远紫外带通反射膜；离轴抛物面反射镜的基底材料为K9玻璃或石英玻璃。
3.根据权利要求1所述的光度计，其特征在于，所述离轴抛物面反射镜采用大F数设计。
4.根据权利要求1所述的光度计，其特征在于，所述透射式带通滤光片厚度为1-2mm，直径为15mm-20mm。
5.根据权利要求1所述的光度计，其特征在于，所述长波通滤光片为真空紫外级别BaF2晶体窗口，长波通滤光片厚度小于等于0.5mm。
6.根据权利要求1所述的光度计，其特征在于，所述光电倍增管为真空紫外波段光电倍增管，真空紫外波段光电倍增管采用CsI作为光阴级。
7.一种基于权利要求1-6任一所述光度计的探测量方法，包括以下步骤：
在离轴抛物面反射镜上镀多层远紫外带通反射膜，经离轴抛物面反射镜一次滤光后的光辐射通过透射式带通滤光片，完成二次滤光，之后经长波通滤光片的BaF2晶体窗口，完成三次滤光，到达光电倍增管，得到测量结果。
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