[发明专利]数据测试方法、平台、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202010835410.3 申请日: 2020-08-19
公开(公告)号: CN111930633A 公开(公告)日: 2020-11-13
发明(设计)人: 赵薇 申请(专利权)人: 北京海益同展信息科技有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杜叶蕊;臧建明
地址: 100176 北京市北京经济技*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 数据 测试 方法 平台 电子设备 存储 介质
【说明书】:

本申请实施例提供的数据测试方法、平台、电子设备及存储介质,通过接收客户端发起的跑批测试指令,确定所述跑批测试指令对应的测试任务;确定并调用所述测试任务对应的测试集,并对所述测试集中的测试数据进行跑批测试,获得跑批测试结果;将所述跑批测试的测试结果展示在所述客户端上,从而简化了测试流程,提高了测试任务的测试效率。

技术领域

本申请涉及测试技术领域,尤其涉及一种数据测试方法、平台、电子设备及存储介质。

背景技术

随着人工智能技术的迅猛发展,在各行各业均有着对人工智能技术的使用。

人工智能技术的实现主要依赖于其模型算法,开发人员会对于模型算法进行更新和升级,以保证模型算法有着较高的运算准确率。在现有技术中,每当对于模型算法完成一次更新或升级,开发人员均需要对于模型算法进行一定的测试。一般来说,开发人员需要手动编写测试脚本,并结合测试数据完成该测试,获得测试结果。

但是,一方面来说,这样的测试流程对于开发人员的脚本编写能力有着一定的要求,而一旦开发人员的脚本编写能力无法满足测试需求,其整个测试流程将无法顺利进行;另一方面来说,在每次对模型算法进行测试前,开发人员均需要重新编写测试脚本,测试花费时间增加,不利于对于模型算法的快速测试。

发明内容

本申请实施例提供一种数据测试方法、平台、电子设备及存储介质,以实现对于测试任务的跑批测试,提高对于模型算法的数据测试的测试效率。

一方面,本申请提供了一种数据测试方法,包括:

接收客户端发起的跑批测试指令,确定所述跑批测试指令对应的测试任务;

确定并调用所述测试任务对应的测试集,并对所述测试集中的测试数据进行跑批测试,获得跑批测试结果;

将所述跑批测试的测试结果展示在所述客户端上。

可选实施例中,还包括:

接收客户端发起的测试集管理请求;

调用当前测试集列表,并根据所述测试集管理请求,对所述当前测试集列表中的测试集进行管理。

可选实施例中,所述测试管理请求用于新增测试集;

相应的,所述根据所述测试集管理请求,对所述当前测试集列表中的测试集进行管理,包括:

根据所述测试集管理请求确定新增的测试集的类型,并获取所述新增的测试集对应的测试数据;

在所述当前测试集列表中增加所述新增的测试接的调用接口。

可选实施例中,所述测试管理请求用于删除测试集;

相应的,所述根据所述测试集管理请求,对所述当前测试集列表中的测试集进行管理,包括:

在当前测试集列表中确定待删除的测试集,根据待删除的测试集的调用接口,删除其测试数据;

将所述待删除的测试集的调用接口从所述当前测试集列表中移除。

可选实施例中,所述测试数据包括多个测试目标以及每个测试目标对应的标注信息;

所述对所述测试集中的测试数据进行跑批测试,获得跑批测试结果,包括:

调用测试任务对应的测试算法,对所述各测试目标进行测试,获得测试信息;

将所述各测试目标的测试信息与其对应的标注信息进行一致性比对,确定所述各测试目标的测试结果;

所述各测试目标的测试结果构成所述跑批测试结果。

可选实施例中,所述将所述跑批测试的测试结果展示在所述客户端上,包括:

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