[发明专利]一种多层X射线探测器图像处理方法及终端有效
申请号: | 202010835149.7 | 申请日: | 2020-08-19 |
公开(公告)号: | CN111973205B | 公开(公告)日: | 2022-11-29 |
发明(设计)人: | 蓝重洲;王宗朋;叶超;成富平 | 申请(专利权)人: | 深圳市安健科技股份有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人: | 林栋 |
地址: | 518000 广东省深圳市高新*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多层 射线 探测器 图像 处理 方法 终端 | ||
1.一种多层X射线探测器图像处理方法,其特征在于,包括步骤:
S1、获取待测量物体的多能图像,所述多能图像为X射线通过多层平板结构的X射线探测器之后所生成的不同能量的X射线所分别得到的多张图像;所述多层平板结构的X射线探测器包括低能探测器、滤过层和高能探测器,所述滤过层设置于所述低能探测器和所述高能探测器之间;
S2、融合多张经过对数变换后的所述多能图像,得到融合图像;
S3、根据预设目标确定加权系数,根据所述加权系数及所述多能图像实现减影,得到减影图像;
S4、根据所述融合图像及所述减影图像,得到图像分析结果;
所述S1具体包括:
使X射线通过待测物体及低能探测器,获取低能图像;
使所述X射线通过放置于所述低能探测器与高能探测器之间的滤过层,以使得所述X射线变为高能X射线;
使所述高能X射线通过高能探测器,获取高能图像;
所述S1与S2之间还包括:对所述低能图像进行校正,得到低能校正图像;
对所述低能图像进行校正,得到低能校正图像具体为:
计算频谱校正系数k:
上式中,μ为所述滤过层的X射线线性衰减系数,l为所述滤过层的厚度;
根据所述频谱校正系数k及所述高能图像,对所述低能图像进行校正,得到低能校正图像,具体为;
其中,Il为所述低能校正图像,Ilprev为所述低能图像,Ih为所述高能图像。
2.根据权利要求1所述的一种多层X射线探测器图像处理方法,其特征在于,所述S2具体为:
获取对数变换后的所述高能图像Ilog_h及对数变换后的所述低能校正图像Ilog_l;
对所述Ilog_h和所述Ilog_l分别进行灰度拉伸,分别得到Ilogdst_h及Ilogdst_l;
具体的,
其中,maxGray=2bits-1,bits、Idst、Isrc、Imax及Imin分别表示所述高能图像的位数、所述Ilogdst_h、所述Ilog_h、所述Ilog_h的最大灰度值及所述Ilog_h的最小灰度值;或分别表示所述低能图像的位数、所述Ilogdst_l、所述Ilog_l、所述Ilog_l的最大灰度值及所述Ilog_l的最小灰度值;
根据预设权重融合所述Ilogdst_h及所述Ilogdst_l,得到所述融合图像。
3.根据权利要求1所述的一种多层X射线探测器图像处理方法,其特征在于,所述S3具体为:
对所述低能校正图像进行对数变换,得到Iln_l;
对所述高能图像进行对数变换,得到Iln_h;
所述对数变换中对数为自然对数;
根据预设目标确定加权系数w;
获取所述减影图像IDE=Iln_h-w·Iln_l。
4.根据权利要求1所述的一种多层X射线探测器图像处理方法,其特征在于,所述S3中根据预设目标确定加权系数具体为:
根据预设目标,确定感兴趣区域;
设定所述加权系数的初始值及变化范围,根据所述初始值及所述变化范围,得到计算所述感兴趣区域的标准差的标准差方程;
根据所述标准差方程,确定使所述感兴趣区域的标准差最小的所述加权系数。
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