[发明专利]虚拟物体显示方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号: | 202010833390.6 | 申请日: | 2020-08-18 |
| 公开(公告)号: | CN114155336A | 公开(公告)日: | 2022-03-08 |
| 发明(设计)人: | 郑玉财 | 申请(专利权)人: | 北京达佳互联信息技术有限公司 |
| 主分类号: | G06T15/50 | 分类号: | G06T15/50 |
| 代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 宁立存 |
| 地址: | 100085 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 虚拟 物体 显示 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种虚拟物体显示方法,其特征在于,所述方法包括:
获取虚拟物体的物体参数,所述物体参数至少包括虚拟物体表面上的多个位置点的法线向量及光照向量,所述位置点的光照向量为所述位置点的光线照射方向上的向量;
根据所述多个位置点的法线向量及光照向量,获取所述虚拟物体的漫反射参数及反光参数,所述漫反射参数与所述反光参数呈负相关关系;
确定与所述漫反射参数及所述反光参数匹配的目标贴图;
在所述虚拟物体表面添加所述目标贴图,显示添加所述目标贴图后的所述虚拟物体。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述虚拟物体的漫反射参数包括所述多个位置点的漫反射子参数,所述虚拟物体的反光参数包括所述多个位置点的反光子参数;
所述根据所述多个位置点的法线向量及光照向量,获取所述虚拟物体的漫反射参数及反光参数,包括:
对于每个位置点,根据所述位置点的法线向量及光照向量,获取所述位置点的漫反射子参数;
对所述漫反射子参数进行取反处理,得到所述位置点的第一反光子参数;
根据预先设置的第一调整参数,调整所述第一反光子参数,得到所述位置点的第二反光子参数;
将所述多个位置点的漫反射子参数进行组合,得到所述漫反射参数;
将所述多个位置点的第二反光子参数进行组合,得到所述反光参数。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述位置点的法线向量及光照向量,获取所述位置点的漫反射子参数,包括:
将所述法线向量与所述光照向量的点积,作为第一数值;
将所述第一数值和0中较大的数值,确定为所述位置点的漫反射子参数。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述虚拟物体的漫反射参数包括所述多个位置点的漫反射子参数,所述虚拟物体的反光参数包括所述多个位置点的反光子参数;所述确定与所述漫反射参数及所述反光参数匹配的目标贴图,包括:
根据每个位置点的漫反射子参数及反光子参数,分别获取所述每个位置点的亮度子参数;
根据所述每个位置点的亮度子参数和多个备选贴图的序号,分别获取所述多个备选贴图的权重,所述备选贴图的序号为所述多个备选贴图按照亮度从大到小依次排列之后确定的,所述备选贴图的序号表征所述备选贴图的亮度,不同备选贴图的序号不同;
按照所述每个位置点对应的多个备选贴图的权重,确定所述目标贴图。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据每个位置点的漫反射子参数及反光子参数,分别获取所述每个位置点的亮度子参数,包括:
对于每个位置点,将所述位置点的漫反射子参数与反光子参数相加,得到所述位置点的第一亮度子参数;
将所述第一亮度子参数与所述备选贴图的数量相乘,得到所述位置点的第二亮度子参数。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述每个位置点的亮度子参数和多个备选贴图的序号,分别获取所述多个备选贴图的权重,包括:
对于每个位置点,根据所述位置点的亮度子参数与每个备选贴图的序号之间的差值,确定所述每个备选贴图的匹配参数,所述匹配参数表征所述备选贴图的亮度与所述位置点的亮度之间的匹配程度;
将相邻的任两个备选贴图的匹配参数之间的差值,作为所述任两个备选贴图中的第一个备选贴图的权重,且将最后一个备选贴图的匹配参数,作为所述最后一个备选贴图的权重,所述相邻的任两个备选贴图是指按照亮度从大到小依次排列的多个备选贴图中相邻的两个备选贴图。
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