[发明专利]物品的检测方法和装置、存储介质及电子装置

权利要求书

1.一种物品的检测方法，其特征在于，包括：

确定第一图像与第二图像之间的一组结构相似度，其中，所述一组结构相似度中的每个结构相似度为所述第一图像中的一个子图像和所述第二图像中的一个对应子图像之间的结构相似度，所述第一图像为第一时刻对目标装置内的存储空间进行拍摄得到的图像，所述第二图像为第二时刻对所述存储空间进行拍摄得到的图像，所述第一图像和所述第二子图像均被划分为多个子图像；

确定所述第一图像与所述第二图像之间的一组目标相似度，其中，所述一组目标相似度中的每个目标相似度为所述第一图像中的所述一个子图像的显著图与所述第二图像中的所述一个对应子图像的显著图之间的相似度；

根据所述一组结构相似度和所述一组目标相似度，确定所述第一图像中的每个子图像与所述第二图像中的对应子图像之间的相似度；

根据所述第一图像中的每个子图像与所述第二图像中的对应子图像之间的相似度，确定所述第二图像中的目标图像区域，其中，所述目标图像区域为所述第二图像相对于所述第一图像发生变化的区域，所述目标图像区域用于表示所述目标图像区域中的放置的物品发生了改变。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定第一图像与第二图像之间的一组结构相似度，包括：

将所述第一图像和所述第二图像分别划分为m×n个子图像，得到所述第一图像的子图像S_ij，以及所述第二图像中的子图像S′_ij，其中，所述m、n为正整数，1≤i≤m，1≤j≤n；

确定所述第一图像中的子图像S_ij与所述第二图像中的子图像S′_ij的结构相似度F_ij，共得到所述一组结构相似度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述第一图像与所述第二图像之间的一组目标相似度，包括：

确定所述第一图像中的子图像S_ij的显著图K_ij，以及所述第二图像中的子图像S′_ij的显著图K′_ij；

确定所述显著图K_ij与所述显著图K′_ij之间的相似度D_ij，共得到所述一组目标相似度。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定所述第一图像中的子图像S_ij的显著图K_ij，以及所述第二图像中的子图像S′_ij的显著图K′_ij，包括：

对所述第一图像中的子图像S_ij进行正交小波变换，得到所述子图像S_ij的低频分量I_LL和高频分量I_HL、I_HH、I_LH；

确定所述低频分量I_LL与所述低频分量I_LL的平均值之间的差值c；

基于所述高频分量I_HL、I_HH、I_LH以及所述差值c，进行逆小波变换，得到所述第一图像中的子图像S_ij的显著图K_ij；

对所述第二图像中的子图像S′_ij进行正交小波变换，得到所述子图像S′_ij的低频分量I′_LL和高频分量I′_HL、I′_HH、I′_LH；

确定所述低频分量I′_LL与所述低频分量I′_LL的平均值之间的差值c′；

基于所述高频分量I′_HL、I′_HH、I′_LH以及所述差值c′，进行逆小波变换，得到所述第二图像中的子图像S′_ij的显著图K′_ij。