[发明专利]一种振动信号采样方法、装置、存储介质及电子设备

权利要求书

1.一种振动信号采样方法，其特征在于，用于旋转机械设备的振动监测，该方法包括：

获取键相脉冲信号，并计算所述键相脉冲信号的采样周期，所述键相脉冲信号为所述旋转机械设备旋转一周发出的脉冲信号；

将所述采样周期与预设采样周期表进行对比，确定所述振动信号的采样周期数；所述预设采样周期表包括信号频率范围、采样周期数、每周期点数、采样频率以及实际采样点数之间的对应关系；

按照所述采样周期数对所述振动信号进行采样，得到实际采样数据；

对所述实际采样数据进行插值重采样，得到2的整数次幂的重采样数据；

对所述重采样数据进行FFT运算，得到所述振动信号的目标频率的幅值与相位。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述按照所述采样周期数对所述振动信号进行采样，得到实际采样数据，具体为：

以所述键相脉冲信号的下降沿作为触发条件，按照所述采样周期数对所述振动信号进行采样，得到实际采样数据。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述按照所述采样周期数对所述振动信号进行采样，得到实际采样数据，具体为：

依据所述采样周期数，根据第一预设公式确定所述振动信号的实际采样数据点，所述第一预设公式为其中，f_ADC为ADC硬件采样频率，f_B为信号基频，n为采样周期数，N'为实际采样数据点；

在每个所述实际采样数据点进行所述振动信号的采样，得到所述实际采样数据。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述实际采样数据进行插值重采样，得到2的整数次幂的重采样数据，具体为：

从所述实际采样点N'中插值抽取N点，则依据第二预设公式确定所述振动信号进行插值后的采样频率，所述第二预设公式为其中，f_S为插值后的采样频率；

依据第三预设公式确定FFT频谱分辨率为则对于频谱任一点Z的频率为其中，Z≤N，且Z为整数；

以任一点Z的频率对所述振动信号进行采样，得到2的整数次幂的所述重采样数据。

5.一种振动信号采样装置，其特征在于，用于旋转机械设备的振动监测，该装置包括：

第一处理单元，用于获取键相脉冲信号，并计算所述键相脉冲信号的采样周期，所述键相脉冲信号为所述旋转机械设备旋转一周发出的脉冲信号；

第二处理单元，用于将所述采样周期与预设采样周期表进行对比，确定振动信号的采样周期数；所述预设采样周期表包括信号频率范围、采样周期数、每周期点数、采样频率以及实际采样点数之间的对应关系；

第三处理单元，用于按照所述采样周期数对所述振动信号进行采样，得到实际采样数据；

第四处理单元，用于对所述实际采样数据进行插值重采样，得到2的整数次幂的重采样数据；

第五处理单元，用于对所述重采样数据进行FFT运算，得到所述振动信号的目标频率的幅值与相位。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述第三处理单元，具体用于：

以所述键相脉冲信号的下降沿作为触发条件，按照所述采样周期数对所述振动信号进行采样，得到实际采样数据。

7.根据权利要求5或6所述的装置，其特征在于，所述第三处理单元，具体用于：

依据所述采样周期数，根据第一预设公式确定所述振动信号的实际采样数据点，所述第一预设公式为其中，f_ADC为ADC硬件采样频率，f_B为信号基频，n为采样周期数，N'为实际采样数据点；

在每个所述实际采样数据点进行所述振动信号的采样，得到所述实际采样数据。