[发明专利]一种X射线探测器及X射线成像系统在审
| 申请号: | 202010817013.3 | 申请日: | 2020-08-14 |
| 公开(公告)号: | CN111789620A | 公开(公告)日: | 2020-10-20 |
| 发明(设计)人: | 王伟懿 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
| 代理公司: | 成都七星天知识产权代理有限公司 51253 | 代理人: | 朱璟 |
| 地址: | 201807 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 射线 探测器 成像 系统 | ||
本申请公开了一种X射线探测器及X射线成像系统。该X射线探测器包括面板、底座和第一驱动机构;所述面板上设有感光区域阵列,所述感光区域阵列包括多行感光区域和多列感光区域,每行所述感光区域均沿着第一方向延伸,每列所述感光区域均沿着第二方向延伸,相邻的两列所述感光区域之间存在间隔,所述第一方向与所述第二方向垂直,所述感光区域上设有用于感应照射到其上的所述X射线的强度的传感器;所述面板与底座活动连接,所述第一驱动机构与所述面板相连,以用于驱动所述面板相对于所述底座沿着所述第一方向运动。
技术领域
本申请涉及医疗器械领域,特别涉及一种X射线探测器及X射线成像系统。
背景技术
X射线探测器是一种用于接受并感应X射线的信息的装置,X射线探测器常被用于X射线成像。例如,X射线探测器常在X射线相衬成像的方法中用于接收X射线。X射线相衬成像的原理为:当X射线穿过物体时,会产生折射,这不可避免地会引起相位变化,这种变化可以通过观察X射线的强度变化而显示出来,利用上述相位改变,可以还原出物体的信息,从而实现物体的成像。
发明内容
本申请实施例之一提供一种X射线探测器,其包括面板、底座和第一驱动机构;所述面板上设有感光区域阵列,所述感光区域阵列包括多行感光区域和多列感光区域,每行均所述感光区域沿着第一方向延伸,每列所述感光区域均沿着第二方向延伸,相邻的两列所述感光区域之间存在间隔,所述第一方向与所述第二方向垂直,所述感光区域上设有用于感应照射到其上的所述X射线的强度的传感器;所述面板与底座活动连接,所述第一驱动机构与所述面板相连,以用于驱动所述面板相对于所述底座沿着所述第一方向运动。
本申请实施例之一提供一种X射线成像系统,其包括如本申请任一实施例所述的X射线探测器。
本申请实施例之一提供一种X射线成像系统,其包括射线源、掩模板、处理器及上述任一技术方案所述的X射线探测器;所述射线源用于发出X射线;所述掩模板布置在所述射线源和所述X射线探测器之间,用于将所述射线源发出的X射线分割成多束子射线,所述多束子射线照射到所述X射线探测器的面板上;所述处理器用于接收传感器的信息,以确定所述面板上的感光区域在不同位置时所分别感应到的照射到其上的子射线的强度。
附图说明
本申请将以示例性实施例的方式进一步说明,这些示例性实施例将通过附图进行详细描述。这些实施例并非限制性的,在这些实施例中,相同的编号表示相同的结构,其中:
图1是根据本申请一些实施例所示的X射线探测器的立体结构示意图;
图2是根据本申请一些实施例所示的X射线探测器的面板结构示意图;
图3是根据本申请另一些实施例所示的X射线探测器的立体结构示意图;
图4是根据本申请另一些实施例所示的X射线探测器的面板结构示意图;
图5是根据本申请一些实施例所示的X射线成像系统的结构示意图。
图中,10为X射线探测器,1为底座,2为面板,3为感光区域,4为第一驱动机构,5为第二驱动机构,20为掩模板,30为射线源,100为X射线成像系统。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
相反,本申请涵盖任何由权利要求定义的在本申请的精髓和范围上做的替代、修改、等效方法以及方案。进一步,为了使公众对本申请有更好的了解,在下文对本申请的细节描述中,详尽描述了一些特定的细节部分。对本领域技术人员来说没有这些细节部分的描述也可以完全理解本申请。
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