[发明专利]基于双通道的增材制造缺陷检测系统在审
| 申请号: | 202010792536.7 | 申请日: | 2020-08-09 |
| 公开(公告)号: | CN111999254A | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
| 发明(设计)人: | 孔令豹;陈垚 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
| 主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25;G01N21/3563;G01N21/88;G06T7/00;G06T5/00;G06K9/62 |
| 代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;陆尤 |
| 地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 双通道 制造 缺陷 检测 系统 | ||
1.一种基于双通道的增材制造缺陷检测系统,其特征在于,包括缺陷光源控制模块(200)、多光谱光源模块(300)、图像采集模块(400)和图像处理模块(500);其中,所述多光谱光源模块(300)包括可见光光源模块(310)和红外光光源模块(320);所述可见光光源模块(310)包括可见光线光光源和水冷系统,该水冷系统用于保持可见光光源模块稳定工作;所述红外光光源模块(320)包括红外光线光光源和水冷系统,该水冷系统用于保持红外光线光光源稳定工作;所述缺陷光源控制模块(200)包括红外光光源频闪控制器和可见光光源频闪控制器,用于控制可见光线光光源和红外光线光光源交替频闪发光;所述图像采集模块(400)包括红外镜头和工业CCD;多光谱光源模块(300)发出的多光谱光波照射到增材制件表面后,工件表面光谱信息反射到达图像采集模块(400)中的红外镜头,然后被工业CCD采集;所述图像处理模块(500)连接图像采集模块(400);所述图像分析处理模块(500)用于对图像采集模块(400)采集到的增材制件的可见光与红外成像信息进行图像处理和分析,快速识别与评价增材制件的缺陷类别。
2.根据权利要求1所述的基于双通道的增材制造缺陷检测系统,其特征在于,图像分析处理模块(500)中包括图像分析和图像处理;图像分析属于图像预处理;所述图像分析采用GLCM特征提取和梯度增强分类算法,完成针对增材制件的缺陷分析与目标识别;图像处理采用去模糊增强方法和去光照不均增强方法,具体采用约束最小二乘滤波和 Top-hat 变换,以平滑度量的最佳复原为基础减小了噪声敏感性,使缺陷图像得到适当的灰度校正,有效地改善缺陷图像的质量。
3.根据权利要求2所述的基于双通道的增材制造缺陷检测系统,其特征在于,所述红外镜头采用8X放大系数、靶面尺寸1/2、工作距离65mm的金相镜头;所述工业CCD采用分辨率为1280*1024、像素尺寸为4.8um*4.8um的红外相机。
4.根据权利要求2所述的基于双通道的增材制造缺陷检测系统,其特征在于,所述可见光线光光源采用150W的线状LED灯排发射可见光波段;所述红外光线光光源采用150W的红外波段为850nm的线状灯排发射红海外光波段。
5.根据权利要求3所述的基于双通道的增材制造缺陷检测系统,其特征在于,所述红外镜头与工业CCD的靶面尺寸适配,为保证工业CCD的进光量,红外镜头的放大系数与最低精度要求吻合。
6.根据权利要求4所述的基于双通道的增材制造缺陷检测系统,其特征在于,所述可见光光源模块(310)和红外光光源模块(320)均采用大功率线灯时,其在工作状态时灯具表面温度达90℃,为保护红外镜头和工业CCD,在可见光光源模块(310)和红外光光源模块(320)中配备水冷系统,通过水循环降温,使灯具表面温度降到40℃。
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