[发明专利]波束测量的方法和装置在审

专利信息
申请号: 202010789073.9 申请日: 2020-08-07
公开(公告)号: CN114071534A 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 李铁;张永平;张茜 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: H04W24/08 分类号: H04W24/08;H04W72/04;H04W72/08;H04B17/382;H04L5/00
代理公司: 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 代理人: 时林;王君
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 波束 测量 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种波束测量的方法,其特征在于,包括:

接收多个上行参考信号,其中,每个上行参考信号是通过所对应的发射波束发射的;

根据所述多个上行参考信号的测量结果,确定所述多个上行参考信号中至少一个上行参考信号的功率回退信息。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述多个上行参考信号的测量结果,确定所述多个上行参考信号中至少一个上行参考信号的功率回退信息,包括:

根据所述多个上行参考信号确定所述多个上行参考信号所对应的多个发射波束的波束质量;

根据确定的所述多个发射波束的波束质量,以及存储的所述多个发射波束的波束质量,确定所述多个上行参考信号中至少一个上行参考信号的功率回退信息。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,存储的每个发射波束的波束质量,是基于所对应的下行参考信号确定的。

4.如权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

根据确定的所述多个发射波束的波束质量,确定上行数据的发射波束。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述上行数据的发射波束为以下任一项:

所述多个发射波束中波束质量最好的发射波束;或者,

所述多个发射波束中功率回退的发射波束;或者,

所述多个发射波束中功率未回退的发射波束。

6.一种波束测量的方法,其特征在于,包括:

确定多个上行参考信号中每个上行参考信号的发射波束;

通过所述多个上行参考信号的发射波束,发射所述多个上行参考信号,其中,所述多个上行参考信号中至少一个上行参考信号所对应的发射波束进行了功率回退。

7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述确定多个上行参考信号中每个上行参考信号的发射波束,包括:

在满足预设条件时,确定所述多个上行参考信号中每个上行参考信号的发射波束。

8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,所述预设条件为出现辐射强度风险。

9.如权利要求6至8中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

在所述多个上行参考信号的发射波束中,确定上行数据的发射波束。

10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,所述上行数据的发射波束为以下任一项:

所述多个上行参考信号的发射波束中波束质量最好的发射波束;或者,

所述多个上行参考信号的发射波束中功率回退的发射波束;或者,

所述多个上行参考信号的发射波束中功率未回退的发射波束。

11.如权利要求6至10中任一项所述的方法,其特征在于,所述多个上行参考信号用于以下任一项:

信道测量、波束管理、基于码本传输、基于非码本传输、天线切换功能、载波切换功能、上下行信道互易性探测、专门用于指示辐射强度的信息。

12.一种波束测量的装置,其特征在于,包括:通信单元和处理单元,

所述通信单元,用于接收多个上行参考信号,其中,每个上行参考信号是通过所对应的发射波束发射的;

所述处理单元,用于根据所述多个上行参考信号的测量结果,确定所述多个上行参考信号中至少一个上行参考信号的功率回退信息。

13.如权利要求12所述的装置,其特征在于,所述处理单元,具体用于:

根据所述多个上行参考信号确定所述多个上行参考信号所对应的多个发射波束的波束质量;

根据确定的所述多个发射波束的波束质量,以及存储的所述多个发射波束的波束质量,确定所述多个上行参考信号中至少一个上行参考信号的功率回退信息。

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