[发明专利]用于校准角度传感器的装置和方法

权利要求书

1.一种用于校准角度传感器(501)的方法(600)，包括：

针对测量对象的多个不同的旋转角度中的每个旋转角度，根据第一传感器元件的位置处的磁场，获取(602)所述第一传感器元件(502)的第一测量值，所述第一传感器元件的位置处的磁场取决于所述测量对象的所述旋转角度；并且根据第二传感器元件的位置处的磁场，获取所述第二传感器元件(504)的第二测量值，所述第二传感器元件的位置处的磁场取决于所述测量对象的所述旋转角度；

基于所获取的所述第一测量值和所述第二测量值求出(604)椭圆方程的多个椭圆参数(512)；和

基于所求出的所述椭圆参数：

确定(606)所述第一传感器元件的第一周期性传感器信号的第一特性数据、所述第二传感器元件的第二周期性传感器信号的第二特性数据、以及所述第一周期性传感器信号和所述第二周期性传感器信号之间的相移。

2.根据权利要求1所述的方法(600)，其中，所求出的所述第一特性数据和所述第二特性数据能够用于所述角度传感器(501)的运行模式中的角度校准。

3.根据前述权利要求中任一项所述的方法(600)，其中，所述第一特性数据包括所述第一周期性传感器信号的第一幅度和第一平均值，并且所述第二特性数据包括所述第二周期性传感器信号的第二幅度和第二平均值。

4.根据前述权利要求中任一项所述的方法(600)，其中，获取所述第一测量值和所述第二测量值时所处的所述不同的旋转角度覆盖所述测量对象的至少一个360°旋转。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法(600)，其中，分别同时获取多个所述第一测量值和多个所述第二测量值。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法(600)，其中，所述第一传感器元件(502)对磁场的第一方向分量敏感，并且所述第二传感器元件(504)对磁场的第二方向分量敏感，其中所述第二方向分量垂直于所述第一方向分量。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法(600)，其中，所述第一传感器元件(502)和所述第二传感器元件(504)对磁场的相同方向分量敏感，其中通过所述第一传感器元件和所述第二传感器元件的位置/距离，设定在所述第一传感器信号和所述第二传感器信号之间的理想的90°相移。

8.根据前述权利要求中任一项所述的方法(600)，其中，所述第一传感器元件(502)和所述第二传感器元件(504)分别包括至少一个磁场传感器元件。

9.根据前述权利要求中任一项所述的方法(600)，其中，基于最小二乘法求出所述椭圆参数(512)。

10.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述椭圆方程的形式为ax²+bxy+cy²+dx+fy+g＝0，并且基于C＝(M^TM)^-1M^TZ求出所述椭圆参数a、b、c、d、f、g，其中

意味着基于多个所述第一测量值和多个所述第二测量值的测量值矩阵，并且Z＝[1 1… 1]^T。

11.根据前述权利要求中任一项所述的方法(600)，其中，为了确定所述第一周期性传感器信号的第一幅度A_X和第一平均值O_X，根据x＝f(y)变换所述椭圆方程，并且设置导数dx/dy＝0，并且其中为了确定所述第二周期性传感器信号的第二幅度A_Y和第二平均值O_Y，根据y＝f(x)变换所述椭圆方程，并设置导数dy/dx＝0。