[发明专利]一种空间碎片测距成像复合光学系统的检测装置及方法在审

专利信息
申请号: 202010776659.1 申请日: 2020-08-05
公开(公告)号: CN111811782A 公开(公告)日: 2020-10-23
发明(设计)人: 李响;白东伟;高亮;安岩;宋延嵩 申请(专利权)人: 长春理工大学
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01M11/02;G01S7/497;G01B11/00;G01B11/24;G01C1/00;G01N21/25
代理公司: 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 代理人: 郭佳宁
地址: 130022 吉林*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 空间 碎片 测距 成像 复合 光学系统 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种空间碎片测距成像复合光学系统的检测装置,其特征在于包括用于固定空间碎片测距成像复合光学系统(1)的五维精密装校平台(2)和多焦面平行光管(3),五维精密装校平台(2)和多焦面平行光管(3)分别安装在处于水平状态的光学平台两端;

多焦面平行光管(3)包括遮光罩(33)、主镜(31)、次镜(32)、动/静态碎片模拟组件(4)、分光镜一(41)、平行光管束散角测试组件(5)、分光镜二(51)、基准光源组件(6)、分光镜三(61)、光功率计(7)、分光镜四(71)和平行光管焦面组件(8),其中主镜(31)、次镜(32)、动/静态碎片模拟组件(4)、分光镜一(41)、平行光管束散角测试组件(5)、分光镜二(51)、基准光源组件(6)、分光镜三(61)、光功率计(7)、分光镜四(71)和平行光管焦面组件(8)均位于遮光罩(33)内部,按照光束传输方向布置如下:

平行光管焦面组件(8)发射的平行光入射到分光镜四(71),经分光镜四(71)的透射后,透射光入射到分光镜三(61),经分光镜三(61)的透射后,透射光入射到分光镜二(51),经分光镜二(51)的透射后,透射光入射到分光镜一(41),经分光镜一(41)的透射后,透射光入射到次镜(32),经次镜(32)的反射后,反射光入射到主镜(31),经主镜(31)的反射后,反射光从遮光罩(33)的开口入射进入空间碎片测距成像复合光学系统(1)内;

空间碎片测距成像复合光学系统(1)发射的平行光束入射到遮光罩(33)内的主镜(31),经主镜(31)的反射后,反射光入射到次镜(32),经次镜(32)的反射后,反射光入射到分光镜一(41),经分光镜一(41)的透射后,透射光入射到光镜二(51),经分光镜二(51)的反射后,反射光入射到平行光管束散角测试组件(5),光束经分光镜二(51)的透射后,透射光入射到分光镜三(61),经分光镜三(61)的透射后,透射光入射到分光镜四(71),经分光镜四(71)的反射后,反射光入射到光功率计(7);

动/静态碎片模拟组件(4)发出的光束入射到分光镜一(41),经分光镜一(41)的反射后,反射光入射到次镜(32),经次镜(32)的反射后,反射光入射到主镜(31),经主镜(31)的反射后,反射光从遮光罩(33)的开口入射进入空间碎片测距成像复合光学系统(1)的内;

基准光源组件(6)发出的光束入射到分光镜三(61),经分光镜三(61)的反射后,反射光入射到分光镜二(51),经分光镜二(51)的透射后,透射光入射到分光镜一(41),经分光镜一(41)的透射后,透射光入射到次镜(32),经次镜(32)的反射后,反射光入射到主镜(31),经主镜(31)的反射后,反射光从遮光罩(33)的开口入射进入空间碎片测距成像复合光学系统(1)内。

2.根据权利要求1所述的一种空间碎片测距成像复合光学系统的检测装置,其特征在于所述的动/静态碎片模拟组件(4)包括LED光源与LCD成像液晶屏,其中LED光源放置在LCD成像液晶屏后。

3.根据权利要求2所述的一种空间碎片测距成像复合光学系统的检测装置,其特征在于所述的平行光管束散角测试组件(5)包括光学镜头和CCD相机,其中光学镜头固定在CCD相机的摄像头上。

4.根据权利要求3所述的一种空间碎片测距成像复合光学系统的检测装置,其特征在于所述的基准光源组件(6)为可替换的基准光源。

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