[发明专利]一种光模块调测系统、光模块调测方法及上位机

说明书

本申请公开了一种光模块调测系统、光模块调测方法及上位机，其中，所述光模块调测系统通过冷热冲击试验机喷射标准温度气体对待测光模块进行温度控制，且由于多路输出模块可以将标准温度气体分为多路，这使得所述冷热冲击试验机配合所述多路输出模块可以同时对多个待测光模块进行温度控制，呈几何倍数地缩短将待测光模块的温度调控为标准温度的时间，有利于提高对待测光模块的调测效率，同时一个冷热冲击试验机可同时对多个待测光模块进行温度控制，在提高调测效率的同时无需增加昂贵的冷热冲击试验机，有利于降低对待测光模块进行调测时的调测成本。

技术领域

本申请涉及光通信技术领域，更具体地说，涉及一种光模块调测系统、光模块调测方法及上位机。

背景技术

光模块(opticalmodule)由光电子器件、功能电路和光接口等模块构成，光模块主要用于将电信号转换成光信号并通过光纤发送，和接收光纤返回的光信号，并将返回的光信号转换为电信号，光模块是光通信领域中的重要器件。

光模块在生产调试时需要分别在“三温”状态下进行，“三温”包括常温(例如25℃)、低温(例如-40℃)和高温(例如85℃)，因此在对光模块进行调测之前，需要大量的时间通过温控设备将光模块的温度调整到标准温度，且一个温控设备只能对一个光模块的温度进行调整，这使得光模块的调测效率低下。

发明内容

为解决上述技术问题，本申请提供了一种光模块调测系统、光模块调测方法及上位机，以实现提高光模块的调测效率，降低光模块的调测成本的目的。

为实现上述技术目的，本申请实施例提供了如下技术方案：

一种光模块调测系统，包括：冷热冲击试验机、上位机、多路输出模块、温度检测仪和调测仪器；其中，

所述冷热冲击试验机，用于根据用户指令喷射标准温度气体；

所述多路输出模块与所述冷热冲击试验机的输出端连接，用于将所述标准温度气体分为多路，并分别向多个待测光模块传输；

所述温度检测仪用于检测所述待测光模块的当前温度，并将所述待测光模块的当前温度传输给所述上位机；

所述上位机，用于根据预设顺序，在当所述待测光模块的当前温度满足调测要求时，利用所述调测仪器对所述待测光模块进行调测。

可选的，所述多路输出模块包括：共用进气端的多路导气管，所述进气端用于接收所述标准温度气体，多路所述导气管与多个所述待测光模块一一对应，所述导气管的出气端朝向与所述导气管对应的待测光模块。

可选的，所述上位机具体用于，根据多个所述待测光模块的编号的先后顺序，对当前温度满足调测要求的待测光模块进行调测。

可选的，所述上位机具体用于，根据多个所述待测光模块的当前温度满足调测要求的先后顺序，对多个所述待测光模块进行调测。

可选的，所述调测仪器包括光示波器、误码仪和衰减器中的至少一种。

可选的，所述上位机根据多个所述待测光模块的当前温度满足调测要求的先后顺序，对多个所述待测光模块进行调测具体用于，利用调测仪器，对当前温度最先满足调测要求的待测光模块进行调测，且在当当前温度满足调测要求的待测光模块有多个时，根据所述调测仪器包括的光示波器、误码仪和衰减器的数量和种类对多个当前满足调测要求的待测光模块分别进行相同或不同的调测内容调测。

可选的，所述上位机还用于，在对所述待测光模块进行调测时，判断当前调测步骤所需的调测仪器是否无空闲，如果是，则控制空闲的调测仪器对所述待测光模块进行与空闲的调测仪器对应的调测步骤的调测，如果否，则控制当前调测步骤所需的调测仪器对所述待测光模块进行调测。

可选的，所述光模块调测系统还包括光开关，所述光开关分别与上位机、调测仪器、各光模块连接，所述上位机还用于控制光开关选择接入调测仪器的光模块。