[发明专利]一种基于CCD的自动测试系统及其方法有效

专利信息
申请号: 202010770907.1 申请日: 2020-08-04
公开(公告)号: CN111750781B 公开(公告)日: 2022-02-08
发明(设计)人: 周伟;王志东;许满达;黄维 申请(专利权)人: 润江智能科技(苏州)有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/30;G06T7/90;G06F17/15;G06F17/18
代理公司: 南京聚匠知识产权代理有限公司 32339 代理人: 刘囝
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 ccd 自动 测试 系统 及其 方法
【说明书】:

发明公开了一种基于CCD的自动测试系统及其方法,先根据待测试对象选择测试光源,并调整待测试对象放置高度;再打开测试光源,CCD感测装置将接收到测试光源照射在待测试对象上的反射光,并将接收到的反射光对应的图像信息传送给计算机,计算机对接收到的图像进行处理得到对应的灰度值分布情况;根据灰度值分布情况得到最大灰度值、平均灰度值,并以此获得代表待测试对象粗糙度范围的第一粗糙度、第二粗糙度;确定待测试对象的位置信息,再将检测到的位置信息也传输至显示装置。本发明能够对待测试对象的定位情况进行判断,准确度高,减少因定位不准对待测试对象进行测试时产生的不可补偿误差,进而提高待测试对象的测试精度。

技术领域

本发明涉及一种基于CCD的自动测试系统及其方法,属于CCD测试技术领域。

背景技术

众所周知,在待测试件的测试中对待测试件的定位是测试的必要步骤,若定位不准,则对待测试件的测试会产生不可补偿的误差,大大降低了测试精度。

目前,对待测试件的定位一般采用传感器固定位置测试法和图像采集定位法,前者使用传感器对待测试件的位置进行识别,例如,使用红外传感器对待测试件的位置进行测算,但是该方法所需传感器较多,且计算复杂,导致运行时间较长,不利于批量测试;后者则使用图像采集装置采集图像的位置,通过图像轮廓提取以获取待测对象的位置信息,运行时间短,但在轮廓提取过程中,待测试件的轮廓易受背景图像的影响,导致其精度不高。

发明内容

针对上述现有技术存在的问题,本发明提供一种基于CCD的自动测试系统及其方法,能够对待测试对象的定位情况进行判断,准确度高,减少因定位不准对待测试对象进行测试时产生的不可补偿误差,进而提高待测试对象的测试精度。

为了实现上述目的,本发明采用如下技术方案:一种基于CCD的自动测试方法,包括:

步骤S1、根据待测试对象选择测试光源,并调整待测试对象放置高度,确保CCD感测装置能够准确接收其反射光;其中,所述测试光源为红光、蓝光或绿光,所述待测试对象为反射率良好的材质;

步骤S2、打开测试光源,CCD感测装置将接收到测试光源照射在待测试对象上的反射光,并将接收到的反射光对应的图像信息传送给计算机,计算机对接收到的图像进行处理得到对应的灰度值分布情况;

步骤S3、对上述灰度值分布情况采取最大值计算以产生最大灰度值,并对上述灰度值分布情况实施平均值计算以产生该灰度值分布的平均灰度值;

步骤S4、对最大灰度值实施第一粗糙度计算以产生第一粗糙度,并对平均灰度值实施第二粗糙度计算以产生第二粗糙度;其中,第一粗糙度计算是关于二次多项式函数的计算,第二粗糙度计算是关于一次多项式函数的计算;

所述二次多项式函数、一次多项式函数的系数均由计算机中的处理程序获得,所述处理程序包含:

将多个已知粗糙度的标准测试对象执行步骤S2至步骤S3操作,以此获取多个反射光最大灰度值和反射光平均灰度值;

根据各个已知粗糙度和对应的反射光最大灰度值实施线性回归以获取该二次多项式函数的系数,并根据各个已知粗糙度和对应的反射光平均灰度值实施线性回归以获取该一次多项式函数的系数;

确定反射光最大灰度值x与表面粗糙度y之间的对应关系,二次多项式函数为y=-0.0016x2-0.2768x+92.782,其回归符合系数为R2=0.9873;并确定反射光平均灰度值x与表面粗糙度y之间的对应关系一次多项式函数为y=-2.5805x+108.16,其回归符合系数为R2=0.9855;

步骤S5、计算机将步骤S3中获得的待测试对象的最大灰度值、平均灰度值分别代入步骤S4中的二次多项式函数、一次多项式函数,可得到第一粗糙度、第二粗糙度,并利用计算机的显示装置显示第一粗糙度、第二粗糙度以代表待测试对象的粗糙度范围;

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