[发明专利]一种复合绝缘子缺陷检测方法、装置、设备及系统

权利要求书

1.一种复合绝缘子缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取复合绝缘子在宽频段内每个频点的多端口S21传输系数；

对所述多端口S21传输系数依次进行整形处理和格式转换，得到幅值数据；

将所述幅值数据导入毫米波场公式，得到所述复合绝缘子的耦合系数；

根据所述耦合系数与预设标准耦合系数的关系，确定所述复合绝缘子的缺陷检测结果。

2.如权利要求1所述的复合绝缘子缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述耦合系数与预设标准耦合系数的关系，确定所述复合绝缘子的缺陷检测结果包括：

确定耦合系数与预设标准耦合系数的差值，并判断所述差值是否小于预设阈值；

若所述差值不小于所述预设阈值，则确定所述复合绝缘子存在缺陷；

若所述差值小于所述预设阈值，则确定所述复合绝缘子不存在缺陷。

3.如权利要求1所述的复合绝缘子缺陷检测方法，其特征在于，将所述幅值数据导入毫米波场公式，得到所述复合绝缘子的耦合系数之前，还包括：

利用远场直达波的幅值校正方法对所述幅值数据进行校准，得到校准后幅值数据；

相应的，将所述幅值数据导入毫米波场公式，得到所述复合绝缘子的耦合系数包括：

将所述校准后幅值数据导入毫米波场公式，得到所述耦合系数。

4.如权利要求3所述的复合绝缘子缺陷检测方法，其特征在于，利用远场直达波的幅值校正方法对所述幅值数据进行校准，得到校准后幅值数据包括：

对所述幅值数据依次进行去调频、通道分离、抽取滤波、傅里叶变换处理，得到所述校准后幅值数据。

5.如权利要求4所述的复合绝缘子缺陷检测方法，其特征在于，将所述校准后幅值数据导入毫米波场公式，得到所述耦合系数包括：

将所述校准后幅值数据分别导入HE₁₁模式和TM₀₁模式下的毫米波场公式，对应得到第一耦合系数和第二耦合系数；

相应的，根据所述耦合系数与预设标准耦合系数的关系，确定所述复合绝缘子的缺陷检测结果包括：

根据所述第一耦合系数与所述预设标准耦合系数的关系以及所述第二耦合系数与所述预设标准耦合系数的关系，确定所述复合绝缘子的缺陷检测结果。

6.如权利要求1至5任一项所述的复合绝缘子缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述多端口S21传输系数依次进行整形处理和格式转换，得到幅值数据包括：

对所述多端口S21传输系数进行模数转换，采用调制解调方法对转换后的所述多端口S21传输系数进行调整；

对调整后的所述多端口S21传输系数进行数模转换，得到整形后多端口S21传输系数，所述整形后多端口S21传输系数的格式为实部和虚部结合的形式；

将所述整形后多端口S21传输系数的所述实部和所述虚部分别进行平方，得到实部平方值和虚部平方值；

将所述实部平方值和所述虚部平方值相加，得到平方和；

将所述平方和取10的对数并乘以-20倍，得到所述幅值数据。

7.一种复合绝缘子缺陷检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取复合绝缘子在宽频段内每个频点的多端口S21传输系数，所述多端口S21传输系数由复合绝缘子毫米波测量系统测得；

整形与格式转换模块，用于对所述多端口S21传输系数依次进行整形处理和格式转换，得到幅值数据；

导入模块，用于将所述幅值数据导入毫米波场公式，得到所述复合绝缘子的耦合系数；

确定模块，用于根据所述耦合系数与预设标准耦合系数的关系，确定所述复合绝缘子的缺陷检测结果。

8.如权利要求7所述的复合绝缘子缺陷检测装置，其特征在于，还包括：

校准模块，用于利用远场直达波的幅值校正方法对所述幅值数据进行校准，得到校准后幅值数据；

相应的，所述导入模块具体用于将所述校准后幅值数据导入毫米波场公式，得到所述耦合系数。