[发明专利]一种气体介电常数测试装置有效

专利信息
申请号: 202010744435.2 申请日: 2020-07-29
公开(公告)号: CN111855761B 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 高冲;李恩;宋鑫;张云鹏;高勇;李亚峰;郑虎 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01N27/22 分类号: G01N27/22;G01R27/26
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 葛启函
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 气体 介电常数 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种气体介电常数测试装置,其特征在于,包括密封腔和密封腔盖板,所述密封腔包括底板和侧壁,通过将所述密封腔侧壁的上表面与所述密封腔盖板的下表面固定连接形成一个中空的密封腔体;在所述密封腔体内设置有非金属固定隔离块和平面谐振结构,所述非金属固定隔离块和平面谐振结构依次放置在所述密封腔底板上;

所述密封腔盖板的下表面为金属面,所述平面谐振结构的介质基板上表面印制有不少于一个的平面金属单元,所述平面谐振结构的介质基板下表面不敷铜;所述密封腔盖板下表面设置有圆环状的外侧金属台阶和圆环状的内侧金属台阶,所述平面谐振结构的介质基板上表面与所述密封腔盖板下表面的外侧金属台阶和内侧金属台阶固定连接,在所述密封腔盖板和所述平面谐振结构之间且位于所述外侧金属台阶和内侧金属台阶之间的区域作为气体测试区域;所述密封腔盖板上设置有进气孔和出气孔,待测气体从所述进气孔进入并填充所述气体测试区域后从所述出气孔排出;

所述平面金属单元位于所述气体测试区域内且不与所述密封腔盖板接触,所述气体测试区域内的所述介质基板、平面金属单元和所述密封腔盖板下表面的金属面构成倒置微带线谐振电路;所述气体介电常数测试装置还设置有微带谐振激励和接收部分,用于对所述倒置微带线谐振电路中的所有平面金属单元进行谐振激励和接收。

2.根据权利要求1所述的气体介电常数测试装置,其特征在于,所述外侧金属台阶上设置有多个水平气体通孔,所述气体测试区域内的待测气体通过所述水平气体通孔后填充在整个密封腔体内。

3.根据权利要求1或2所述的气体介电常数测试装置,其特征在于,所述平面金属单元为环形结构,环形结构的所述平面金属单元与所述密封腔盖板下表面的金属面构成倒置微带谐振器。

4.根据权利要求3所述的气体介电常数测试装置,其特征在于,所述密封腔底板上设置有多个密封腔耦合孔,所述非金属固定隔离块上设置有分别与所有所述密封腔耦合孔同心的多个固定块耦合孔,将多个同轴磁耦合环分别插入对应的所述密封腔耦合孔和所述固定块耦合孔中作为所述微带谐振激励和接收部分,每一个环形结构的所述平面金属单元由两个同轴磁耦合环插入对应的两个所述密封腔耦合孔和两个所述固定块耦合孔中进行谐振激励和接收。

5.根据权利要求4所述的气体介电常数测试装置,其特征在于,在所述非金属固定隔离块上对应一个平面金属单元的两个所述固定块耦合孔之间设置电磁屏蔽槽,所述电磁屏蔽槽内填充有吸波材料。

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