[发明专利]一种用于采样器件的间接测温方法及结构

权利要求书

1.一种用于采样器件的间接测温方法，其特征在于，包括以下步骤：电流确定的情况下，采集至少两次采样器件的电阻区以及导电区的电压，将得到的至少四个电压值进行数学计算处理，并根据电流以及电阻率温度系数计算出温差；如预先对某一温度下电压、电阻及温度的数值作配对，则结合配对结果将实际温差换算成实际温度。

2.根据权利要求1所述的一种用于采样器件的间接测温方法，其特征在于，所述电阻区为锰铜，导电区为紫铜。

3.根据权利要求1所述的一种用于采样器件的间接测温方法，其特征在于，所述电阻区表面加设导热罩，所述导热罩与电阻区的接触面设置在电阻区中间以及四周，导热罩其余部分架空。

4.一种用于采样器件的间接测温结构，其特征在于，包括采集端以及导热罩，所述采集端设置于电阻区以及导电区各自的边界处，采集端通过导线外接用于计算电参数和温度的处理单元，所述导热罩设置于电阻区表面。

5.根据权利要求4所述的一种用于采样器件的间接测温结构，其特征在于，所述导热罩与电阻区的接触面设置在电阻区中间以及四周，导热罩其余部分架空。

6.根据权利要求4或5所述的一种用于采样器件的间接测温结构，其特征在于，所述导热罩厚度小于等于电阻区的一半，且导热罩上设有通气孔。

7.根据权利要求4或5所述的一种用于采样器件的间接测温结构，其特征在于，所述导热罩延伸至导电区。