[发明专利]微波噪声接收机的噪声参数确定方法及装置

说明书

本发明适用于微波/毫米波测试技术领域，提供了一种微波噪声接收机的噪声参数确定方法及装置，该方法包括：通过对噪声参数测量系统进行校准，并采用校准后的噪声参数测量系统进行测量得到噪声相关参数；根据噪声相关参数，建立噪声接收机的线性超定方程；求解线性超定方程得到未知列向量的值，并根据未知列向量的值计算噪声接收机的噪声参数，从而可以对噪声接收机的噪声参数进行表征。本发明通过采用高精度噪声参数测量系统测量噪声相关参数，然后设定线性超定方程并运用最小二乘法进行求解，根据得到的线性超定方程的未知列向量计算噪声接收机噪声参数，从而使得噪声参数测量精度较高，且噪声参数计算方法简单，可以提高噪声参数测量效率。

技术领域

本发明属于微波/毫米波测试技术领域，尤其涉及一种微波噪声接收机的噪声参数确定方法及装置。

背景技术

噪声系数是用来描述一个系统中出现的过多的噪声量的品质因数，因此把噪声系数降低到最小的程度可以减小噪声对系统造成的影响。噪声参数包括最小噪声系数F_min、最佳源反射系数Γ_opt和等效噪声电阻R_n。

当前使用最普遍的噪声参数测量系统由噪声源和噪声系数仪组成，其中噪声源提供标准的噪声信号，噪声系数仪测量噪声源处于两个不同的资用噪声功率(或不同噪声温度)时的标准噪声信号经过被测件(DUT)之后的总的噪声信号，然后经过运算得到DUT的噪声系数。然而，采用这种噪声参数测量系统测量噪声系数时，通常假定测量系统能够在被测器件(DUT)的输入端口和输出端口上提供非常完美的50Ω的负载条件，可是在实际测量中，这样完美的条件永远不会存在，只有在被测件输入输出都匹配良好的时候才近似成立，因此导致测量噪声系数存在大的偏差。另外，高精度噪声系数测量系统测量运用最小二乘法求解噪声参数，这个求解过程中涉及到生产厂家的技术秘密，求解的方法对于厂家而言不宜公开，因此目前亟需一种测量精度高的噪声参数确定方法。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种微波噪声接收机的噪声参数确定方法及装置，旨在解决现有技术中噪声参数测量精度较低或无法得知较高精度噪声参数求解方法的问题。

为实现上述目的，本发明实施例的第一方面提供了一种微波噪声接收机的噪声参数确定方法，采用噪声参数测量系统，包括：

对所述噪声参数测量系统进行校准，并采用校准后的噪声参数测量系统进行测量得到噪声相关参数；

根据所述噪声相关参数，建立噪声接收机的线性超定方程；

求解所述线性超定方程得到未知列向量的值，并根据所述未知列向量的值计算噪声接收机的噪声参数。

作为本申请另一实施例，所述噪声相关参数包括：二端口网络的S参数、噪声源反射系数、噪声接收机反射系数、阻抗调配器内部探针的不同位置、不同位置对应的反射系数、噪声源分别处于热态和冷态时的噪声功率值、噪声源处于冷态时阻抗调配器的每个反射系数所对应的噪声功率值。

作为本申请另一实施例，所述根据所述噪声相关参数，建立噪声接收机的线性超定方程，包括：

根据所述二端口网络的S参数、所述噪声源反射系数、噪声接收机反射系数以及噪声源分别处于热态和冷态时的所述噪声功率值，定义第一参数；

根据所述第一参数、阻抗调配器内部探针的不同位置对应的反射系数、噪声源处于冷态时阻抗调配器的每个反射系数所对应的噪声功率值以及噪声接收机反射系数，建立噪声接收机的线性超定方程。

作为本申请另一实施例，所述根据所述二端口网络的S参数、所述噪声源反射系数、噪声接收机反射系数以及噪声源分别处于热态和冷态时的所述噪声功率值，定义第一参数，包括：

根据所述二端口网络的S参数和所述噪声源反射系数，计算噪声通过S网络源传播到参考平面a的噪声温度，所述参考平面a为定义在放置直通校准件平台一端且距离所述阻抗调配器最近的参考平面；