[发明专利]一种总α和总β放射性测量样品制备装置及方法

权利要求书

1.一种总α和总β放射性测量样品制备装置，包括铺样器(200)，所述铺样器(200)，用于将待测灰样制备成厚度相对均匀的待测样品源，

其特征在于，

所述铺样器(200)包括样品盘(200a)和刮片(200b)，其中：

所述刮片(200b)与所述样品盘(200a)相互平行而使得两者之间的高度限定出所述待测样品源的制成厚度，从而在所述刮片(200b)和所述样品盘(200a)彼此相对转动的情况下，所述刮片(200b)能够将所述待测灰样制成厚度相对均匀的待测样品源。

2.根据权利要求1所述的测量样品制备装置，其特征在于，所述刮片(200b)包括用于将所述待测灰样制成待测样品源的刚性刮丝(200b-1)，

所述刚性刮丝(200b-1)按照所述待测灰样不会外爬至样品盘(200a)外沿的方式与调高器(200c)固定连接。

3.根据权利要求1或2所述的测量样品制备装置，其特征在于，所述调高器(200c)包括内螺旋杆(200c-1)和与所述内螺旋杆(200c-1)螺旋连接的外螺旋杆(200c-2)，所述外螺旋杆(200c-2)与外固定筒(200c-3)螺旋连接，

其中，所述刚性刮丝(200b-1)与所述内螺旋杆(200c-1)固定连接，

其中，所述内螺旋杆(200c-1)的螺距小于所述外螺旋杆(200c-2)的螺距，而使得所述刮片(200b)与所述样品盘(200a)之间的高度至少能够以先粗调而后细调的方式确定。

4.根据前述权利要求之一所述的测量样品制备装置，其特征在于，所述刚性刮丝(200b-1)通过至少两条斜边连接至所述内螺旋杆(200c-1)，而使得所述刮片(200b)能够在所述刚性刮丝(200b-1)与所述待测灰样接触的过程中相对平稳地与所述调高器(200c)固定连接。

5.根据前述权利要求之一所述的测量样品制备装置，其特征在于，所述样品盘(200a)处于水平状态，以使得制成的待测样品源的厚度相对均匀并且所述待测灰样中的液相部分不会在所述刮片(200b)和所述样品盘(200a)彼此相对转动中流动至所述样品盘(200a)的外缘。

6.根据前述权利要求之一所述的测量样品制备装置，其特征在于，所述刮片(200b)和所述样品盘(200a)的相对转动的转动速度按照先慢速再逐渐增速而后逐渐降速至匀速的方式配置。

7.根据前述权利要求之一所述的测量样品制备装置，其特征在于，所述刚性刮丝(200b-1)为表面光滑的细丝，且其直径为0.2mm～0.5mm，其长度与所述样品盘(200a)的尺寸彼此匹配。

8.根据前述权利要求之一所述的测量样品制备装置，其特征在于，所述样品盘(200a)与测量探头的尺寸彼此匹配，而使得在所述待测样品源制备完成之后，铺设于所述样品盘(200a)上的待测样品源能够直接用于测量探头测量。

9.一种总α和总β放射性测量样品制备方法，包括：

将待测样品固体研磨成目数符合要求的待测灰样；

将待测灰样制备成厚度相对均匀的待测样品源，

其特征在于，

将刮片(200b)与样品盘(200a)相互平行而使得两者之间的高度按照所述待测样品源的制成厚度的要求而设定，从而在所述刮片(200b)和所述样品盘(200a)彼此相对转动的情况下，所述刮片(200b)能够将所述待测灰样制成厚度相对均匀的待测样品源。

10.根据权利要求9所述的测量样品制备方法，其特征在于，所述刮片(200b)和所述样品盘(200a)相对转动的转动速度按照先慢速再增速而后降速至匀速的方式配置。