[发明专利]一种气相色谱分析方法中化合物保留时间的预测方法

说明书

本发明属于色谱分析技术领域，具体涉及一种气相色谱分析方法中化合物保留时间的预测方法。该预测方法包括以下步骤：确定每个化合物的初始保留时间；选取参考系靶标化合物；根据预测方程预测保留时间。本发明的化合物保留时间的预测方法，只涉及目标化合物和与其相邻参考系靶标化合物在不同色谱参数条件下的保留时间(即保留行为)，由于参考系靶标化合物与目标化合物的分子结构相似，在不同色谱参数条件下保留行为基本一致，可做到近乎等时间间隔的线性插入参考系靶标化合物，因此可准确预测色谱分析参数改变后化合物的保留时间。基于相同原理，也可准确预测仪器更换、仪器色谱柱维护等气相色谱分析方法改变后化合物的保留时间。

技术领域

本发明属于色谱分析领域，具体涉及一种气相色谱分析方法中化合物保留时间的预测方法。

背景技术

气相色谱分析是一种高效能、高选择性、高灵敏度、操作简单、应用广泛的分离分析方法。为了达到最好的分离效果，通常需要通过反复实验来确定最佳的色谱分析条件，这种方式缺乏理论指导，工作量大。尤其当待测化合物种类高达上百种时，最佳色谱分析条件的确定非常繁琐耗时。如果能对不同色谱分析条件下的色谱峰进行保留时间的预测，在此基础上建立最佳的色谱条件，则可以减少实验次数，缩短实验时间。

申请公布号为CN111398487A的中国发明专利申请公开了一种利用保留指数预测目标物保留时间的方法。保留指数的计算公式为：

其中，RI为目标化合物的保留指数，z为目标化合物流出前相邻正构烷烃的碳原子数，t(x)为目标化合物的实测保留时间，t(z)为目标化合物流出前相邻正构烷烃的实测保留时间，t(z+1)为目标化合物流出后相邻正构烷烃的实测保留时间。

上述方法适用于仪器常规维护(如更换或切割色谱柱)后或方法在不同仪器间转移的情形，由于化合物的保留指数在不同色谱分析参数条件下的重现性较差，如果程序升温等色谱分析参数改变，上述保留指数法的预测精度则会发生显著下降。

发明内容

本发明的目的在于提供一种气相色谱分析方法中化合物保留时间的预测方法，适用于在分析方法开发过程中，改变色谱参数后化合物保留时间的准确预测，同样也适用于在气相色谱参数不变的情况下，分析方法在不同仪器之间进行转移或对仪器进行常规维护(更换、切割色谱柱)后化合物保留时间的校准。

为实现上述目的，本发明的气相色谱分析方法中化合物保留时间的预测方法的技术方案是：

一种气相色谱分析方法中化合物保留时间的预测方法，包括以下步骤：

1)在初始色谱参数条件下，对所有目标化合物的标准溶液进行气相色谱分析，确定每个目标化合物的保留时间，记录为在初始色谱参数条件下化合物的初始保留时间；

2)所有目标化合物的所述初始保留时间组成时间链条，在时间链条上选取分割节点对时间链条进行分割，以分割节点上的目标化合物作为参考系靶标化合物；

3)改变色谱分析条件，测定参考系靶标化合物的标准溶液的保留时间，将参考系靶标化合物保留时间代入预测方程，计算出在改变色谱分析条件下所有目标化合物的保留时间；

所述改变色谱分析条件包括改变色谱分析参数，在不改变色谱分析参数的条件下更换仪器或对仪器色谱柱进行维护；

所述预测方程如式(1)所示：

式(1)中，t_x为改变色谱分析条件后目标化合物的预测保留时间，t_x1、t_x2分别为改变色谱分析条件后与目标化合物前、后相邻的参考系靶标化合物的保留时间，t₀、t₁、t₂分别为目标化合物及与目标化合物前、后相邻的参考系靶标化合物的初始保留时间。