[发明专利]一种基于复合模式全聚焦的裂纹形貌重建方法有效
申请号: | 202010696063.0 | 申请日: | 2020-07-20 |
公开(公告)号: | CN111855809B | 公开(公告)日: | 2022-07-26 |
发明(设计)人: | 金士杰;林莉;刘晨飞;罗忠兵 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
主分类号: | G01N29/06 | 分类号: | G01N29/06;G01N29/44 |
代理公司: | 大连星海专利事务所有限公司 21208 | 代理人: | 杨翠翠;花向阳 |
地址: | 116024 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 复合 模式 聚焦 裂纹 形貌 重建 方法 | ||
一种基于复合模式全聚焦的裂纹形貌重建方法,其属于无损检测技术领域。该方法采用相控阵超声检测仪、相控阵超声探头和倾斜楔块构成的相控阵超声检测系统,利用相控阵全矩阵捕捉模块采集包括21种模式波的A扫描信号矩阵;基于费马定理,计算21种模式波在楔块与被检试块界面处的折射点位置,得到被检区域内每种模式波的幅值信号;针对每一个重建点从上述21种模式波中选择能量最强信号;最后,通过复合叠加实现不同取向裂纹的形貌重建。该方法能够利用一套探头楔块组合,通过一次信号采集实现不同取向裂纹形貌重建,进而对裂纹长度、深度和取向精确定量;该方法可嵌入到探伤仪中,实现未知取向裂纹检出与定量,具有较高工程应用前景。
技术领域
本发明涉及一种基于复合模式全聚焦的裂纹形貌重建方法,其属于无损检测技术领域。
背景技术
裂纹定量、定位和定取向是无损检测领域始终关注的问题。常规相控阵超声检测技术具有对面积型缺陷敏感、成像检测结果显示直观、缺陷定量与定位准确等优点,被广泛用于裂纹检测。然而,常规相控阵超声技术仅能呈现裂纹端点特征,成像结果受裂纹取向影响,不能给出裂纹完整形貌信息,甚至可能引起缺陷性质误判,导致缺陷危害程度估计不足。
为解决上述问题,国内外学者结合成像处理技术改善图像质量,力求直观、全面和准确地呈现裂纹形貌特征信息。逆时偏移成像可以获得裂纹近似形貌,但方法适用性受噪声影响较大,且计算效率偏低。全聚焦方法利用相控阵超声各阵元依次激励声波,且所有阵元同时接收回波信号,以获得包含被检裂纹信息的全矩阵数据。该方法可以提升成像分辨力和信噪比,但不能完整表征裂纹形貌。在此基础上,考虑直接、半跨和全跨模式,共存在21种模式波。对于特定取向裂纹,可从上述21种模式波中选取指向性最好的一种进行延时叠加成像,从而给出该裂纹形貌特征。这种方法称为多模式全聚焦方法,其适用范围受楔块角度与裂纹取向的相对关系影响,每种模式波可表征的裂纹取向范围不超过20°。特别是待测缺陷取向未知时,难以明确成像所用模式波类型,检测效率和可靠性降低。
发明内容
本发明提供一种基于复合模式全聚焦的裂纹形貌重建方法,其目的是针对裂纹形貌完整表征困难、可能引起缺陷性质误判的问题,利用相控阵超声检测仪的全矩阵捕捉功能配合倾斜楔块采集A扫描信号矩阵,并对被检区域逐点进行21种模式波中能量最强信号的复合叠加,实现不同取向裂纹的完整形貌表征。
本发明采用的技术方案是:采用由相控阵超声检测仪、相控阵超声探头和倾斜楔块构成的检测系统,采集包括21种模式波的A扫描信号矩阵;基于费马定理,计算21种模式波在楔块与被检试块界面处的折射点位置,得到被检区域内每种模式波的幅值信号;针对每一个重建点,从上述21种模式波中选择能量最强信号;最后,通过复合叠加实现不同取向裂纹的形貌重建;所述方法采用下列步骤:
(a)相控阵超声检测参数选择
根据被检试块的材料、形状和尺寸信息选取相控阵超声检测参数,参数包括相控阵超声探头频率、阵元数量以及楔块型号;
(b)A扫描信号矩阵采集
基于选定的相控阵超声检测参数,利用相控阵超声检测仪全矩阵捕捉功能一次采集包括不同模式波的A扫描信号矩阵,并以txt格式保存;对于一个阵元数为n的相控阵探头,A扫描信号数量为n2;
(c)坐标系建立及图像重建区域网格划分
以楔块和被检试块界面为x轴,探头第一阵元中心位置到x轴的投影点为坐标原点,楔块前沿方向为x轴正向,试块深度方向为y轴正向建立坐标系,将被检区域划分成M×N个矩形网格,网格节点即为各图像重建点;
(d)模式波种类确定
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