[发明专利]测定装置、测定装置的调整方法及计算机存储介质

权利要求书

1.一种测定装置，其具备：

流动室，供含粒子的试样流动；

光源，向在所述流动室流动的所述试样照射光；

荧光检测器，检测从被所述光源照射了光的所述试样产生的荧光；

控制部，使含荧光染料的阳性对照试样流向所述流动室，通过所述荧光检测器测定从被所述光源照射了光的所述阳性对照试样产生的荧光，并比较获得的测定值与标准值，根据比较结果调整所述荧光检测器的检测灵敏度。

2.根据权利要求1所述的测定装置，其特征在于：

所述控制部根据所述比较结果反复调整所述荧光检测器的检测灵敏度，直至所述测定值与所述标准值的比较结果满足条件。

3.根据权利要求2所述的测定装置,其特征在于：

所述测定值与所述标准值之间的差分小于阈值时，所述控制部判定所述比较结果满足所述条件。

4.根据权利要求1～3其中任意1项所述的测定装置,其特征在于：

在利用第1检测灵敏度通过所述荧光检测器测定从所述阳性对照试样产生的荧光，获得的测定值与所述标准值的比较结果不满足所述条件的情况下，所述控制部利用根据所述比较结果与使用所述第1检测灵敏度的情况相比测定值更接近标准值的第2检测灵敏度通过所述荧光检测器测定从所述阳性对照试样产生的荧光，比较获得的测定值与所述标准值。

5.根据权利要求2～3其中任意1项所述的测定装置，其特征在于：

所述控制部使用查找法调整所述荧光检测器的检测灵敏度。

6.根据权利要求1～3其中任意1项所述的测定装置，其特征在于：

所述阳性对照试样包含所述荧光染料所标记的复数个粒子；

所述控制部通过所述荧光检测器测定从所述阳性对照试样中的各粒子产生的荧光，并对从各粒子获得的测定值的统计值与所述标准值进行比较。

7.根据权利要求6所述的测定装置，其特征在于：

所述统计值为从所述阳性对照试样中的各粒子获得的测定值的中位数、众数或平均值。

8.根据权利要求1～3其中任意1项所述的测定装置，其特征在于：

所述控制部通过控制针对所述荧光检测器的施加电压来调整所述荧光检测器的检测灵敏度。

9.根据权利要求1～3其中任意1项所述的测定装置，其特征在于：

所述测定装置还具备由用户进行操作的输入部；

所述控制部将所述用户介由所述输入部输入的值设定为所述标准值。

10.根据权利要求1～3其中任意1项所述的测定装置，其特征在于：

所述控制部在使所述阳性对照试样流入所述流动室的期间，切换所述荧光检测器的检测灵敏度，由此来调整所述荧光检测器的检测灵敏度。

11.根据权利要求1～3其中任意1项所述的测定装置，其特征在于：

所述流动室供包含由所述荧光染料及其他荧光染料多重染色了的粒子的所述试样流动；

在所述荧光检测器的检测灵敏度的调整后，所述控制部使包含所述其他荧光染料的其他阳性对照试样流入所述流动室，通过所述荧光检测器测定从被所述光源照射了光的所述其他阳性对照试样产生的荧光，并基于获得的测定值，决定用于修正来自所述其他荧光染料的荧光的向所述荧光检测器的漏入的修正值。

12.根据权利要求11所述的测定装置，其特征在于：

在所述荧光检测器的检测灵敏度的调整后，所述控制部使不含荧光染料的阴性对照试样流入所述流动室，通过所述荧光检测器测定从被所述光源照射了光的所述阴性对照试样产生的荧光，并基于从所述阴性对照试样获得的测定值以及从所述其他阳性对照试样获得的测定值决定所述修正值。