[发明专利]一种面向屏幕视觉检测的子像素排序方法及装置

说明书

本发明提供了一种用于屏幕亚像素级定位的排序方法及装置，以特殊定位图的四个顶点坐标为基础，将定位图通过信号发生器导入待检测屏幕中，并用高分辨率相机拍摄目标图像，获取待检测图像，通过待检测图像中的特征点进行定位，找到待检测图像的四个顶点，经由透射变换将目标图像网格化，在相机坐标系中以左上角点为起始点，同时通过网格交叉点的邻域内搜索极大值点对网格交叉点进行局部补偿校准，判定并记录符合要求的点坐标。本发明区别于传统的逐行搜索方法极大地依赖屏幕图像的完整性，克服了出现分散分布坏点或大面积坏点时排序错乱的不足，同时也解决了当屏幕与相机坐标系夹角过大时找点错位的问题。

技术领域

本发明属于图像处理领域，更具体地，涉及一种面向屏幕视觉检测的子像素排序方法及装置。

背景技术

主动发光型显示器，例如有机发光二极体(Organic Light Emitting Diode，OLED)显示屏，MiniLED显示屏，以及uLED显示屏具有高亮度、宽视角、主动发光、响应速度快等优点，随着市场对显示器大尺寸形态变化、超薄化、高分辨率的需求不断提升，导致OLED这些显示屏在制备过程产生缺陷的几率不断增加。提升制备工艺的同时，在出厂前进行缺陷检测或者是实施Demura来提升亮度均一性，是保证产品良率的关键，。传统人工检测的方法容易受人视力水平、情绪等和外界环境变化等因素的影响，利用机器视觉开展OLED显示屏缺陷的自动化光学检测(AOI)，其意义在于可以提高产品良率，提升使用寿命。

Mura缺陷是一种常见的面状缺陷，在屏幕上表现为显示亮度不均匀，其本质上是像素间的发光亮度差异，是OLED显示屏生产过程面临的严峻问题。，解决此类问题主要依赖Demura技术，其整体补偿方案主要包括OLED显示屏发光均匀性测量和外部驱动电流调整两个部分。具体来讲，利用高分辨CCD相机感光面接收OLED显示屏自发光点的光强信息，转化为屏幕相应像素的发光强度值，与相应灰阶下标准亮度数据比较，计算出像素的输入模拟信号的调整量，使用信号发生器驱动补偿模块对输入信号进行调整，但现有技术存在准确度不高的问题，同时，对像素缺失、图像有倾角等问题的解决也需要进一步研究。

发明内容

针对现有技术的缺陷和改进需求，本发明提供了一种面向屏幕视觉检测的子像素排序方法及装置，包括：以特殊定位图的四个顶点坐标为基础，将定位图通过信号发神器导入待检测屏幕中，并用高分辨率相机拍摄目标图像并获取待排序图像，通过待排序图像中的特征点进行定位，找到待排序图像的四个顶点，经由透射变换将待排序图像网格化。在相机坐标系中以左上角点为起始点，同时通过网格交叉点的邻域内搜索极大值点对网格交叉点进行局部补偿校准，判定并记录符合要求的点坐标。

为实现上述目的，按照本发明的第一方面，提供了一种面向屏幕视觉检测的子像素排序方法，具体包括：

第一步，目标图像采集，获取待排序图像；

第二步，以特殊定位图为基础找到所述待排序图像特征点的坐标并获取四个顶点；

第三步，利用透射变换将图像网格化，以左上顶点为起始点，搜索网格点邻域内非零的中心点，记下坐标(x,y),若邻域内无非零点，则记下网格点坐标信息，直到所有点找完；

第四步，对网格点坐标信息进行校准及填补缺失坐标，完成排序。

进一步的，为了获取较小的图像，减少计算量的同时删除目标外的干扰点，所述获取待排序图像的方法是对所述目标图像下采样和阈值分割，这样使所述待排序图像较目标图像只有1/8甚至更小的数据量，极大减少了计算量。