[发明专利]一种用于集成电路耐高低温测试的装置

说明书

本发明公开了一种用于集成电路耐高低温测试的装置，属于集成电路耐温检测装置领域，一种用于集成电路耐高低温测试的装置，本方案中，大幅缩减检测箱的体积，减小温变装置所需的影响体积，使检测箱内整体温度易于控制，而在检测箱上半部的保温帘内有多个弹性纤维纠缠形成的密闭空间可以有效隔绝检测箱内的空气与检测箱外界空气进行热交换，同时又不影响检测电路板和集成电路主体正常穿过保温帘，而保温帘内由多组主干走向各不相同的弹性纤维组成可以实现相互之间的互补，大幅增加保温帘的保温效果，可以实现无需在更待检测集成电路时对检测装置进行拆卸，不易造成检测装置各个部件之间的连接出现松动，易于进行保温。

技术领域

本发明涉及集成电路耐温检测装置领域，更具体地说，涉及一种用于集成电路耐高低温测试的装置。

背景技术

集成电路（integrated circuit）是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。

现在，集成电路已经在各行各业中发挥着非常重要的作用，是现代信息社会的基石。集成电路的含义，已经远远超过了其刚诞生时的定义范围，但其最核心的部分，仍然没有改变，那就是“集成”，其所衍生出来的各种学科，大都是围绕着“集成什么”、“如何集成”、“如何处理集成带来的利弊”这三个问题来开展的。硅集成电路是主流，就是把实现某种功能的电路所需的各种元件都放在一块硅片上，所形成的整体被称作集成电路。

集成电路的工作环境指标很多，如工作温度和湿度等，其中过高的温度会导致集成电路在高温下过负载工作，易造成集成电路疲劳损伤，影响集成电路的使用寿命，而过低的温度则会导致集成电路启动不畅，易造成集成电路失效，影响正常工作。

因此在集成电路设计过程中，对于部分特殊需求的集成电路（如极端气候使用，或使用环境温差变化较大），通常会对其耐高低温的性能进行测试，现有的测试装置大多为拆装式的，每次安装更换待检测的集成电路时需要将测试装置拆卸，但是结果多册拆卸的测试装置各个部件之间的连接易出现松动，造成其整体密封性能低下，不易进行保温，对待检测集成电路的检测造成影响。

发明内容

1．要解决的技术问题

针对现有技术中存在的问题，本发明的目的在于提供一种用于集成电路耐高低温测试的装置，它可以实现无需在更待检测集成电路时对检测装置进行拆卸，不易造成检测装置各个部件之间的连接出现松动，造成其整体密封性能低下，易于进行保温，不易对待检测集成电路的检测造成影响。

2．技术方案

为解决上述问题，本发明采用如下的技术方案。

一种用于集成电路耐高低温测试的装置，检测箱，所述检测箱的槽底板开凿有安装槽，所述安装槽内固定连接有与自身相匹配的温变装置，所述检测箱内放置有与自身相匹配的检测电路板，所述检测箱的侧壁上开凿有多组电动滑轨，多组所述电动滑轨均位于检测箱的拐角处，所述检测电路板上固定了连接有多个与电动滑轨相匹配的电动滑块，所述检测箱与检测电路板之间通过电动滑轨和电动滑块实现滑动连接，所述检测电路板的上侧设有集成电路主体，所述检测电路板包括检测主板，所述检测主板上固定连接有与集成电路主体相匹配的插槽，所述检测箱的侧壁固定连接有胶贴，所述胶贴位于检测电路板和集成电路主体的上侧，所述胶贴远离检测箱的一端固定连接有保温帘，所述保温帘包括多个弹性纤维，相邻所述弹性纤维远离检测箱的一端相互纠结缠绕在一起形成密闭隔间，所述保温帘由多层弹性纤维组成，多层弹性纤维的主干走向各不相同，所述检测主板的侧壁上固定连接有梳齿，可以实现无需在更待检测集成电路时对检测装置进行拆卸，不易造成检测装置各个部件之间的连接出现松动，造成其整体密封性能低下，易于进行保温，不易对待检测集成电路的检测造成影响。