[发明专利]一种弹性腔体的老炼试验用插座有效

专利信息
申请号: 202010663899.0 申请日: 2020-07-10
公开(公告)号: CN111896861B 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 胡会献;王茉;康智淼;吴志军;郝铭杰;邓小健 申请(专利权)人: 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 许健明
地址: 100076 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 弹性 试验 插座
【说明书】:

发明涉及一种弹性腔体的老炼试验用插座,包括插座上盖、插座底座,插座上盖和插座底座均呈方形,插座上盖和插座底座通过套有弹簧的连接轴连接。插座底座包括插座底座座体、连接轴和四个活动块,四个活动块沿插座底座座体中心对称,每个活动块内均设置有两排弹簧,活动块上设置活动块锁柱,可实现活动块的固定或松弛。插座底座和插座上盖通过扣紧部件扣紧。本发明由于采用四个活动块的方式,避免了外形公差较大、底面PAD间距过小、LGA封装形式的电路放置到老化插座时容易错位无法得到正常的老炼试验结果的问题,提高了老化插座的可靠性。

技术领域

本发明涉及一种弹性腔体的老炼试验用插座,属于老化插座结构改进技术领域。

背景技术

近几年我国研制的集成电路行业发展迅速,集成电路的集成度越来越高,引腿数量越来越多,采取LGA封装形式的老化试验越来越多。而现有的固定腔体尺寸、LGA封装形式的老化插座无法完全适用PAD间距特别小的电路,电路外形尺寸公差较小时易出现相邻PAD错位无法得到老炼试验结果的问题,电路外形尺寸公差较大时易出现电路无法放入老化插座腔体内或试验后无法取出的问题。

发明内容

本发明的技术解决问题是:克服现有技术的不足,提供一种弹性腔体的老炼试验用插座,解决了外形公差较大、底面PAD间距过小、LGA封装形式的电路放置到老化插座时容易错位无法得到老炼试验结果和试验后无法取出电路的问题,提高了老化插座的可靠性。

本发明的技术解决方案为:一种弹性腔体的老炼试验用插座,包括插座底座、插座上盖,所述插座底座包括插座底座座体、四个活动块和连接轴;所述插座上盖包括连接轴孔、插座上盖座体、弹性压块和扣紧件;所述插座底座和插座上盖通过斜面与斜面缺口紧密咬合连接,且扣紧件上套有扣紧弹簧,在插座打开时,所述扣紧件受力,保证扣紧件和插座上盖座体的夹角大于等于90°。

所述插座底座、插座上盖均呈方形。

所述插座底座座体包括“U”型缺口、探针、锁定孔、斜面缺口;所述活动块包括后活动块、前活动块、活动块锁柱、活动块弹簧。

所述“U”型缺口(111)设置刻度线,保证与所述前活动块上刻度线重合时,前活动块压缩活动块弹簧的值为0.3~0.5mm;所述探针与电路PAD布局一致,且与上下左右的活动块分别对称。

所述后活动块包括螺纹孔、弹簧柱、“U”形槽;所述两个弹簧柱在后活动块侧面对称,且与前活动块上的两个弹簧柱一一对应,保证前活动块松弛时,活动块弹簧伸长量相同,给电路的推力一样大;

前活动块包括通槽口、通槽、弹簧柱、“L”形套片;所述“L”形套片具有韧性,受力向里弯曲,套入“U”形槽后,取消受力,“L”形套片恢复原来状态,保证后活动块与前活动块组合一起;

所述活动块锁柱包括方形盖、活动柱、锁定凸起,活动块锁柱上有刻度线,保证与通槽上刻度线重合时,活动块锁柱下端的锁定凸起可以旋转放置到前活动块上端的通槽口里。

所述弹性压块内对称设置若干个相同的弹簧,保证弹性压块均匀下压,活动量为0.4~0.5mm。

所述弹簧为4个,在弹性压块腔体内中心对称分布。

所述扣紧件包括扣紧件连接孔、扣紧弹簧和斜面,所述扣紧件呈“丁”字形,位于插座上盖一端,当插座闭合时,与插座底座一端的斜面缺口紧密咬合连接。

所述弹性压块与电路、插座腔体一一对应,处于同一垂直面,都位于插座腔体中线位置,保证插座闭合时,电路受压力,与探针接触良好。

所述弹性压块,在保证插座闭合、电路受压力、与探针接触良好情况下,向上活动量为0.4~0.5mm。

所述活动块弹簧活动量为0.2~0.4mm。

本发明与现有技术相比的优点在于:

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