[发明专利]口罩颗粒物过滤效率测试仪的校准方法有效
| 申请号: | 202010657162.8 | 申请日: | 2020-07-09 |
| 公开(公告)号: | CN111650109B | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
| 发明(设计)人: | 周瑾艳;许俊斌;李俊良;花秀兵;郭雯雯;许武光;王帆寿;陈玲;罗旭东 | 申请(专利权)人: | 广东省计量科学研究院(华南国家计量测试中心) |
| 主分类号: | G01N15/08 | 分类号: | G01N15/08 |
| 代理公司: | 北京商专润文专利代理事务所(普通合伙) 11317 | 代理人: | 许春兰;熊雯 |
| 地址: | 510000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 口罩 颗粒 过滤 效率 测试仪 校准 方法 | ||
1.口罩颗粒物过滤效率测试仪的校准方法,涉及使用标准流量计、标准压差计、标准粉尘浓度测量仪、口罩颗粒物过滤效率测试仪,其特征在于,包括如下处理步骤:
步骤1:接通口罩颗粒物过滤效率测试仪的气路系统,将标准流量计串联到口罩颗粒物过滤效率测试仪气路中,以一定时间间隔先读取若干次仪器的瞬时流量值,再读取标准流量计测量的采样流量值,计算流量测量相对示值误差;
步骤2:通过标准流量计测量仪器流量的初始值并开始计时,以一定时间间隔读取若干次仪器流量的测量值,计算流量稳定性;
步骤3:将标准压差计连接到仪器压力管道,以一定时间间隔读取若干次仪器的瞬时压力值,读取标准压差计测量的采样压力值,计算压力测量相对示值误差;
步骤4:通过标准压差计测量仪器压力的初始值并开始即时,以一定时间间隔读取若干次仪器压力的测量值,计算压力稳定性;
步骤5:口罩颗粒物过滤效率测试仪的夹具上不放口罩,读取颗粒物过滤效率仪器示值,重复测量若干次,计算空置过滤效率及空置过滤效率漂移值;
步骤6:口罩颗粒物过滤效率测试仪的夹具上放置口罩,首先读取颗粒物过滤效率仪器示值,然后将测量端口上下游分别接入标准粉尘浓度测量仪,记录上下游颗粒物浓度测量结果,计算过滤效率标准测量值,重复上述操作若干次,计算过滤效率示值误差;
步骤7:读取颗粒物过滤效率仪器过滤效率的测量值,连续测量若干次,计算过滤效率重复性。
2.根据权利要求1所述的口罩颗粒物过滤效率测试仪的校准方法,其特征在于,在步骤1中,流量测量相对示值误差的计算公式为:
公式1:
其中,ΔQR为流量测量相对示值误差,为仪器流量若干次测量的瞬时流量值的平均值,为标准流量计测量的采样流量值的平均值。
3.根据权利要求1所述的口罩颗粒物过滤效率测试仪的校准方法,其特征在于,在步骤2中,流量稳定性的计算公式为:
公式2:
其中,δQ为流量稳定性,Qmax为若干次测量值中最大流量示值,Qmin为若干次测量值中最小流量示值,Q0为仪器流量初始值。
4.根据权利要求1所述的口罩颗粒物过滤效率测试仪的校准方法,其特征在于,在步骤3中,压力测量相对示值误差的计算公式为:
公式3:
其中,ΔpR为压力测量相对示值误差,为仪器若干次测量值的平均值,为标准压差计测量的采样压力值的平均值。
5.根据权利要求1所述的口罩颗粒物过滤效率测试仪的校准方法,其特征在于,在步骤4中,压力稳定性的计算公式为:
公式4:
其中,δp为压力稳定性,pmax为若干次测量值中最大压力示值,pmin为若干次测量值中最小压力示值,p0为仪器压力的初始值。
6.根据权利要求1所述的口罩颗粒物过滤效率测试仪的校准方法,其特征在于,在步骤5中,若干次颗粒物过滤效率仪器示值的平均值即为空置过滤效率,空置过滤效率漂移值计算公式为:
公式5:
其中,为空置过滤效率漂移值,ER,max为空置过滤效率测量最大示值,ER,min为空置过滤效率测量最小示值。
7.根据权利要求1所述的口罩颗粒物过滤效率测试仪的校准方法,其特征在于,在步骤6中,过滤效率标准测量值的计算公式为:
公式6:
其中,Es为过滤效率标准测量值,ρu为测量端口上游颗粒物浓度,ρd为测量端口下游颗粒物浓度;
过滤效率示值误差的计算公式为:
公式7:
其中,ΔE为过滤效率示值误差,为过滤效率标准测量值的平均值,为过滤效率仪器示值的平均值。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东省计量科学研究院(华南国家计量测试中心),未经广东省计量科学研究院(华南国家计量测试中心)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010657162.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





