[发明专利]芯片的随机化验证方法及装置

说明书

本申请提供一种芯片的随机化验证方法及装置。该方法包括：将多个输入项划分为多个输入组；针对每个输入组，确定每个输入组的第二解析空间，并基于第二解析空间确定输入组对应的每个输入项的随机输入激励，其中，每个第二解析空间根据输入组对应的第一解析空间确定；以及基于多个输入项的随机输入激励对待验证功能进行验证。以此可以提升随机输入激励的确定速度，提升芯片的验证速度，提高验证效率。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，具体而言，涉及一种芯片的随机化验证方法及装置。

背景技术

在芯片验证过程中，为了保证验证的完备性，一般会采用受约束的随机化方法来产生输入激励。如下图所示，假如芯片的某个功能模块有三个输入，分别为A、B和C，它们的取值范围分别为下图中红、绿和紫色框。为了充分验证该模块，在A、B和C这三个输入上需要分别输入红、绿和紫色框中所有的值。由于A、B和C分别具有自己的解析空间(红、绿、紫)，且A、B和C之间又有关系，因此在产生某一组特定的输入值时需要同时考虑红、绿和紫色框中所有的解析空间。

传统随机方法中，当A、B和C的解析空间较大时，由于每产生一组特定的输入均需要同时考虑它们解析空间中所有的可能性，因此产生该组输入的时间会较长。更有甚者，当A、B和C的解析空间很大或者某个模块的输入比较多且具有相关性时，整个解析空间会非常大，而此时产生一组特定的输入往往需要很长的时间，或者由于服务器性能有限导致无法产生任何输入激励。

传统数据方法中，当遇到随机输入激励解析空间较大时，为了能顺利产生随机的输入激励，往往会扩展服务器数量或者增强服务器性能，这无疑增加了芯片的研发成本；而且有时候在扩展服务器数量或者增加服务器性能的情况下，产生随机激励所花费的时间仍然较长，这无疑增加了芯片的验证时间，从而导致整个芯片的验证时间变长。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种芯片的随机化验证方法及装置，用以解决现有技术中芯片验证时间过长的问题。

第一方面，本发明实施例提供一种芯片的随机化验证方法，芯片包括至少一个待验证功能，待验证功能包括多个输入项，每个输入项对应一个第一解析空间；方法包括：

将多个输入项划分为多个输入组；

针对每个输入组，确定每个输入组的第二解析空间，并基于第二解析空间确定输入组对应的每个输入项的随机输入激励，其中，每个第二解析空间根据输入组对应的第一解析空间确定；

基于多个输入项的随机输入激励对待验证功能进行验证。

在可选的实施方式中，每个输入组对应一个输入项。

在可选的实施方式中，第一解析空间对应有随机属性，随机属性包括开启状态和关闭状态。

在可选的实施方式中，针对每个输入组，确定每个输入组的第二解析空间，并基于第二解析空间确定输入组对应的每个输入项的随机输入激励，包括：

依次从多个输入组中确定当前输入组，并执行如下步骤，直至遍历多个输入组：

将当前输入组对应的第一解析空间的随机属性设置为开启状体，其他的第一解析空间的随机属性设置为关闭状态，得到当前输入组的第二解析空间；

基于已确定的输入组的随机输入激励以及当前输入组的第二解析空间，确定当前输入组对应的每个输入项的随机输入激励。

在可选的实施方式中，输入随机项之间存在约束关系。

在可选的实施方式中，基于已确定的输入组的随机输入激励以及当前输入组的第二解析空间，确定当前输入组对应的每个输入项的随机输入激励，包括：

基于已确定的输入组的随机输入激励，已确定的输入组与当前输入组之间的约束关系，以及当前输入组的第二解析空间，确定当前输入组对应的每个输入项的随机输入激励。