[发明专利]一种X射线三维成像无损检测试验装置在审

专利信息
申请号: 202010647939.2 申请日: 2020-07-07
公开(公告)号: CN111751389A 公开(公告)日: 2020-10-09
发明(设计)人: 张艺;杨园华 申请(专利权)人: 中易创新(北京)科技有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616 代理人: 邓凌云
地址: 100000 北京市丰台区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 射线 三维 成像 无损 检测 试验装置
【权利要求书】:

1.一种X射线三维成像无损检测试验装置,包括试验台(1),其特征在于:所述试验台(1)的台面上侧固定设有拱形架(2),所述拱形架(2)靠近下端部的左右两侧分别设有夹持组件(3),拱形架(2)中部开设有限位通槽(4),所述限位通槽(4)内设有可拆卸的X射线检测器(5),所述X射线检测器(5)与限位通槽(4)内壁滑动连接,X射线检测器(5)通过固定组件(6)固定在拱形架(2)上。

所述夹持组件(3)包括转杆(7)、伸缩筒(8)和夹板(9),所述左右两侧的转杆(7)分别贯穿拱形架(2)的左右两侧且与拱形架(2)转动连接,所述左右两侧的伸缩筒(8)分别套设在左右两侧转杆(7)的相对侧端的部分上,伸缩筒(8)内底部与转杆(7)之间通过弹簧(10)连接,所述左右两侧伸缩筒(8)的相对侧端分别固定设有夹板(9)。

2.根据权利要求1所述的一种X射线三维成像无损检测试验装置,其特征在于:所述固定组件(6)包括固定块(11)和锁紧螺栓(12),所述X射线检测器(5)的前后两侧分别固定设有固定块(11),所述固定块(11)通过锁紧螺栓(12)固定在拱形架(2)上。

3.根据权利要求1所述的一种X射线三维成像无损检测试验装置,其特征在于:所述转杆(7)靠近伸缩筒(8)内底部一端处套接有限位挡环(13),所述限位挡环(13)位于伸缩筒(8)内且与伸缩筒(8)靠近拱形架(2)一端的内壁顶接。

4.根据权利要求1所述的一种X射线三维成像无损检测试验装置,其特征在于:所述转杆(7)远离伸缩筒(8)一端固定设有转柄(14)。

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