[发明专利]光学成像的像差测量方法及光学成像方法

说明书

本发明公开了一种光学成像的像差测量方法及光学成像方法，应用的光学成像系统用于产生一路参考光以及一路测量光，将测量光发射至被测样品并获取由被测样品反射回的测量光，根据参考光和由被测样品返回的测量光的干涉光对被测样品进行成像。光学成像系统的成像装置用于捕获干涉光中属于第一波段范围的光实现焦前成像，得到第一光强分布图像，以及捕获干涉光中属于第二波段范围的光实现焦后成像，得到第二光强分布图像，根据第一光强分布图像和第二光强分布图像获得光学成像系统成像的像差信息，进而能够根据成像像差进行相应校正，提高成像精度。

技术领域

本发明涉及光学干涉成像技术领域，特别是涉及一种光学成像的像差测量方法。本发明还涉及一种光学成像方法。

背景技术

光学相干层析成像(Optical Coherence Tomography，OCT)是一种新的三维层析成像技术，是基于低相干干涉原理获得深度方向的层析能力，通过扫描可以重构出生物组织或材料内部结构的二维或三维图像。光学相干层析成像技术与常规影像手段相比具有独特优势，其影像效果接近病理，同时具有无创无辐射、活体实时观测、高分辨率、组织内深度成像、获得3D影像数据等优点。目前，OCT技术已经在临床诊疗中获得了广泛的应用。

然而在实际应用中，由于被测样品内部结构的干扰，导致存在像差，影响了成像效果。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的是提供一种光学成像的像差测量方法及光学成像方法，通过测量光学成像存在的像差以进行相应校正，能够提高成像精度。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种光学成像的像差测量方法，应用的光学成像系统用于产生一路参考光以及一路测量光，将测量光发射至被测样品并获取由被测样品反射回的测量光，根据参考光和由被测样品返回的测量光汇合发生干涉的干涉光对被测样品进行成像；

所述光学成像系统包括成像装置，所述成像装置用于捕获干涉光中属于第一波段范围的光实现焦前成像，得到第一光强分布图像，以及捕获干涉光中属于第二波段范围的光实现焦后成像，得到第二光强分布图像；

所述方法包括：根据所述第一光强分布图像和所述第二光强分布图像获得所述光学成像系统成像的像差信息。

优选的，根据所述第一光强分布图像和所述第二光强分布图像获得所述光学成像系统成像的像差信息包括：

设将该公式代入以下公式(2)，得到以下公式(4)：

其中，表示第一光强分布图像，表示第二光强分布图像，表示光瞳内位置坐标，I₀表示输入的总光强，Δz表示P₁、P₂共轭位置相对入瞳的距离，P₁表示焦前成像面，P₂表示焦后成像面，Δz＝f(f-l)/l，f表示所述成像装置的焦距，l表示焦前成像面到所述成像装置焦平面的距离或者焦后成像面到所述成像装置焦平面的距离；

对公式(4)求解获得所述光学成像系统成像的像差。

优选的，根据所述第一光强分布图像和所述第二光强分布图像获得所述光学成像系统成像的像差信息包括：

以所述第一光强分布图像和所述第二光强分布图像相减的结果输入到预先训练好的预设神经网络模型内，由所述预设神经网络模型输出所述光学成像系统成像的像差信息。

优选的，所述成像装置的通光孔划分为第一区域和第二区域，所述成像装置通过通光孔的第一区域捕获干涉光中属于第一波段范围的光以实现焦前成像，以及通过通光孔的第二区域捕获干涉光中属于第二波段范围的光以实现焦后成像。