[发明专利]图像相似度检测方法、装置、存储介质与电子设备

权利要求书

1.一种图像相似度检测方法，其特征在于，包括：

获取根据样本图像集所确定的采样位置序列和所述采样位置序列对应的阈值序列；

通过所述采样位置序列从第一图像中提取第一特征点序列，以及从第二图像中提取第二特征点序列；

对比所述第一特征点序列和所述阈值序列，得到所述第一特征点序列对应的第一编码，以及对比所述第二特征点序列和所述阈值序列，得到所述第二特征点序列对应的第二编码；

确定所述第一编码与所述第二编码之间的相似度，以作为所述第一图像与所述第二图像之间的相似度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采样位置序列通过以下方式确定：

获取样本图像集；

计算所述样本图像集的至少两张样本图像中相同位置的像素值之间的方差，以得到方差图像；所述至少两张样本图像的尺寸相同，所述方差图像与所述样本图像的尺寸也相同；

根据所述方差图像确定所述采样位置序列。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述方差图像确定所述采样位置序列，包括：

利用滑窗遍历所述方差图像，每次移动所述滑窗后，将框选区域内的像素值均转变为该框选区域内的最大像素值；

在遍历所述方差图像后，得到极大值图像；

对比所述方差图像与所述极大值图像，根据所述方差图像与所述极大值图像中像素值相同的位置，确定所述采样位置序列。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述阈值序列通过以下方式确定：

通过所述采样位置序列从所述样本图像集的至少两张样本图像中提取样本特征点序列；

根据各所述样本特征点序列中的数值分布，确定所述阈值序列。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据各所述样本特征点序列中的数值分布，确定所述阈值序列，包括：

对于所述采样位置序列中的第i采样位置，从样本图像S对应的样本特征点序列FS中提取第i采样位置的像素值Pi(S)；

将像素值Pi(S)代入以下损失函数，通过优化所述损失函数的最小值，求解第i采样位置对应的阈值Ti；

排列每个所述采样位置对应的阈值，得到所述阈值序列；

其中，G表示所述样本图像集，G包括k个类别的样本图像，k≥2，j表示其中的第j类别，Gj表示第j类别的样本图像子集；λ₁和λ₂为权重参数。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取根据样本图像集所确定的采样位置序列和所述采样位置序列对应的阈值序列，包括：

将所述第一图像的类别确定为目标类别；

获取所述目标类别对应的采样位置序列和阈值序列。

7.根据权利要求1至6任一项所述的方法，其特征在于，所述通过所述采样位置序列从第一图像中提取第一特征点序列，包括：

按照所述采样位置序列中的每个采样位置，从所述第一图像中依次提取每个采样位置的像素点，形成所述第一特征点序列。

8.根据权利要求1至6任一项所述的方法，其特征在于，对比所述第一特征点序列和所述阈值序列，得到所述第一特征点序列对应的第一编码，包括：

依次对比所述第一特征点序列中的像素值与所述阈值序列中的阈值；

根据所对比的像素值与阈值是否相同，确定该像素值对应的编码数值；

合并所述第一特征点序列中的每个像素值对应的编码数值，形成所述第一特征点序列对应的第一编码。

9.根据权利要求1至6任一项所述的方法，其特征在于，所述确定所述第一编码与所述第二编码之间的相似度，包括：

对比所述第一编码与所述第二编码中每个编码位置的数值是否相同；

统计数值相同的编码位置在全部编码位置中所占的比例，以得到所述第一编码与所述第二编码之间的相似度。