[发明专利]元件检测方法、装置、计算机设备和存储介质

权利要求书

1.一种元件检测方法，所述方法包括：

获取待检测元件对应的元件图像；

在所述元件图像中定位所述待检测元件包括的多个引脚，得到所述多个引脚各自对应的引脚坐标；

筛选所述引脚坐标中的多个边缘引脚坐标，根据所述多个边缘引脚坐标确定所述待检测元件的旋转角度；

根据所述旋转角度对所述引脚坐标进行矫正，得到矫正后的引脚坐标；

将所述矫正后的引脚坐标与所述待检测元件对应的标准检测位置进行匹配，基于匹配的引脚坐标进行元件检测，得到所述待检测元件对应的检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述筛选所述引脚坐标中的多个边缘引脚坐标包括：

获取所述待检测元件对应的标准检测位置；

将所述引脚坐标与所述标准检测位置进行匹配，得到相匹配的多个待测引脚坐标；

从所述多个待测引脚坐标中筛选多个边缘引脚坐标。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个边缘引脚坐标确定所述待检测元件的旋转角度包括：

根据所述多个边缘引脚坐标进行线性拟合，得到元件边缘线；

以标准检测位置对应的标准边缘线为基准，计算所述元件边缘线的倾斜度，根据所述倾斜度确定所述待检测元件的旋转角度。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述元件边缘线包括所述待检测元件对应的多条边缘线；

所述以标准检测位置对应的标准边缘线为基准，计算所述元件边缘线的倾斜度，根据所述倾斜度确定所述待检测元件的旋转角度包括：

基于标准检测位置生成所述边缘线各自对应的标准边缘线；

以所述边缘线各自对应的标准边缘线为基准，分别计算所述边缘线对应的倾斜度，根据所述倾斜度确定所述边缘线对应的边缘角度；

对多个所述边缘角度进行平均操作，将得到的平均角度确定为所述待检测元件的旋转角度。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于匹配的引脚坐标进行元件检测，得到所述待检测元件对应的检测结果包括：

基于所述匹配的引脚坐标生成多个同线引脚集合；

根据所述同线引脚集合中的引脚坐标进行线性拟合，得到所述同线引脚集合对应的偏移参考线；

根据所述引脚坐标以及所述偏移参考线进行偏移检测，得到引脚偏移量；

统计所述待检测元件包括的多个引脚各自对应的引脚偏移量，得到所述待检测元件对应的检测结果。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述元件图像中定位所述待检测元件包括的多个引脚，得到所述多个引脚各自对应的引脚坐标包括：

对所述元件图像进行预处理，得到预处理后的图像；

在所述预处理后的图像中定位所述待检测元件包括的多个引脚，得到所述多个引脚各自对应的引脚区域；

获取对于所述待检测元件对应元件类型配置的元件参数，基于所述元件参数筛选所述引脚区域，得到筛选后的引脚区域；

在所述筛选后的引脚区域中确定所述引脚对应的引脚坐标。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取标准元件对应的标准元件图像；

对所述标准元件图像进行预处理，在预处理后的标准元件图像中，定位所述标准元件对应的多个标准引脚区域；

获取对于所述标准元件对应元件类型配置的元件参数，根据所述元件参数生成标准引脚网格，所述标准元件与所述待检测元件的元件类型相一致；

将所述标准引脚区域与所述标准引脚网格进行匹配，根据相匹配的标准引脚区域生成标准检测区域，在所述标准检测区域中确定标准检测位置。