[发明专利]一种无损寻找石英晶体光轴方向的方法在审

专利信息
申请号: 202010627955.5 申请日: 2020-07-02
公开(公告)号: CN111735793A 公开(公告)日: 2020-10-02
发明(设计)人: 李建军;刘雪松;王岳;程佑法;黄准;刘海彬 申请(专利权)人: 山东省计量科学研究院
主分类号: G01N21/3563 分类号: G01N21/3563
代理公司: 广东科信启帆知识产权代理事务所(普通合伙) 44710 代理人: 李波
地址: 250014 *** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 无损 寻找 石英 晶体 光轴 方向 方法
【权利要求书】:

1.一种无损寻找石英晶体光轴方向的方法,其特征在于,步骤包括:

步骤1.向石英晶体入射红外光,测定反射光频率;

步骤2.调整入射红外光频率,使之在850cm-1~750cm-1范围扫描;

步骤3.360度范围内调整石英晶体的方向,直至反射光谱由双峰转换为单峰,即确定入射红外光与反射红外光之间的中线方向即为光轴方向。

2.如权利要求1所述的无损寻找石英晶体光轴方向的方法,其特征在于:所述双峰为包含801cm-1~795cm-1的峰A和783cm-1~777cm-1的峰B。

3.如权利要求2所述的无损寻找石英晶体光轴方向的方法,其特征在于:当783cm-1~777cm-1的峰B消失时,即确定入射红外光与反射红外光之间的中线方向即为光轴方向。

4.如权利要求3所述的无损寻找石英晶体光轴方向的方法,其特征在于:步骤3包括,360度范围内调整石英晶体的方向,直至反射光谱由双峰转换为单峰,当783cm-1~777cm-1的峰B消失时,对样品以反射装置样品台面为对称面反转180°,进一步验证此角度下峰B仍消失,即确定入射红外光与反射红外光之间的中线方向即为晶体的光轴方向。

5.如权利要求4所述的无损寻找石英晶体光轴方向的方法,其特征在于:当对样品以平行反射装置样品台面的平面为对称面反转180°,此角度下峰B未消失时,即判定该晶体为多块单晶粘连结合,存在多个晶轴方向。

6.如权利要求1~5任一项权利要求所述的无损寻找石英晶体光轴方向的方法,其特征在于:所述入射红外光的入射角度选自:0~15度。

7.如权利要求1~5任一项权利要求所述的无损寻找石英晶体光轴方向的方法,其特征在于:所述入射红外光的入射角度选自:0~5度。

8.如权利要求1~5任一项权利要求所述的无损寻找石英晶体光轴方向的方法,其特征在于:所述入射红外光分辨率为5~12cm-1

9.如权利要求1~5任一项权利要求所述的无损寻找石英晶体光轴方向的方法,其特征在于:所述入射红外光分辨率为7~9cm-1

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