[发明专利]显示装置的对准检查装置及对准检查方法

说明书

本发明提供一种显示装置的对准检查装置及对准检查方法。显示装置的对准检查装置包括：支撑台，供安装显示装置，所述显示装置包括第一显示基板及配置在所述第一显示基板的上方的第二显示基板；光源部，配置在所述支撑台的上方，用于向所述支撑台所处的一侧发出检查光；相机部，配置在所述支撑台的上方，用于拍摄所述第一显示基板及所述第二显示基板并生成图像数据；以及控制部，用于由所述图像数据计算所述第一显示基板的第一图案及所述第二显示基板的第二图案，并利用所述第一图案及所述第二图案判断所述第一显示基板和所述第二显示基板是否对准不良。

技术领域

本发明涉及一种显示装置的对准检查装置及利用该对准检查装置的对准检查方法。

背景技术

随着多媒体的发展，显示装置的重要性日益增加。与此相应，正在开发诸如液晶显示装置(Liquid Crystal Display Device，LCD)或有机发光显示装置(Organic LightEmitting diode Display Device，OLED)等的多种显示装置。

在显示装置中，有机发光显示装置包括作为自发光型元件的有机发光元件。有机发光元件可包括彼此相对的两个电极和设置在其之间的有机发光层。两个电极所提供的电子和空穴可在发光层中经过再结合生成激子，所生成的激子从激发态变为基态，从而能够发出光。

这种自发光显示装置由于不需要额外的光源，因此耗电量低，不仅能够构造为轻量薄型的装置，还具有宽视角、高亮度、高对比度及较快的响应速度等高品位特性，从而作为下一代显示装置备受关注。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种显示装置的对准检查装置，该对准检查装置能够利用光学系统计算第一显示基板和第二显示基板的各个图案，并利用该图案检查第一显示基板和第二显示基板是否对准不良。

本发明所要解决的另一技术问题是提供一种显示装置的对准检查方法，该对准检查方法利用光学系统计算第一显示基板和第二显示基板的各个图案，并利用该图案判断第一显示基板和第二显示基板是否对准不良。

本发明的技术问题不限于上面提到的技术问题，本领域技术人员根据以下的记载应能清楚理解未提到的其他技术问题。

用于解决上述技术问题的一实施例的显示装置的对准检查装置包括：支撑台，供安装显示装置，所述显示装置包括第一显示基板及配置在所述第一显示基板的上方的第二显示基板；光源部，配置在所述支撑台的上方，用于向所述支撑台所处的一侧发出检查光；相机部，配置在所述支撑台的上方，用于拍摄所述第一显示基板及所述第二显示基板并生成图像数据；以及控制部，用于由所述图像数据计算所述第一显示基板的第一图案及所述第二显示基板的第二图案，并利用所述第一图案和所述第二图案判断所述第一显示基板和所述第二显示基板是否对准不良。

所述检查光可为红外线或近红外线。

所述显示装置可包括多个像素，每一个所述像素包括：包括在所述第一显示基板中的像素电极层；包括在所述第二显示基板中的遮光部件；以及包括在所述第二显示基板中且配置在由所述遮光部件划定的区域中的滤色层，所述第一图案可为所述像素电极层，所述第二图案可为所述滤色层。

所述控制部可用于测量所述第一图案与所述第二图案之间的间隔，并通过比较经测量的所述间隔和临界值，来判断所述第一显示基板和所述第二显示基板是否对准不良。

所述检查光可为对所述遮光部件的透射率低且对所述滤色层及所述像素电极层的透射率高的波段的光。