[发明专利]一种小卫星出厂可靠性问题筛选率计算方法

说明书

一种小卫星出厂可靠性问题筛选率计算方法，属于卫星总体设计技术领域，根据对同类型多颗已发射小卫星在正样研制阶段的可靠性问题统计分析，得到小卫星出厂可靠性问题分布数据和可靠性问题分布公式，将卫星出厂前的正样阶段整星累计加电时间代入到可靠性问题分布公式中，计算卫星出厂的可靠性问题筛选率。本方法计算出的小卫星可靠性筛选率更能直观的表征卫星的生产可靠性，解决了没有可靠性预计存在的与卫星产品实际研制测试、试验活动相脱节的问题，能够为卫星研制和生产活动提供更为准确、真实、可靠的评价作用。

技术领域

本发明涉及一种小卫星出厂可靠性问题筛选率计算方法，属于卫星总体设计技术领域。

背景技术

多数产品的故障率在其全寿命周期内呈现浴盆曲线的变化特点，在产品研制和使用的早期寿命阶段，其故障率处于一个随时间迅速下降的阶段，该阶段叫做产品的早期寿命阶段。而可靠性预计所表征的设计可靠性无法反映这一变化现象，必须采用平均故障间隔时间或平均故障时间等生产可靠性指标来表征这一变化现象，从而进行生产可靠性控制。

卫星作为一种产品，其寿命周期内故障率变化也具有浴盆曲线特点。对于一颗卫星来说，卫星出厂前在正样阶段开展的测试和试验，就相当于早期寿命阶段。由于在轨无法维修，卫星产品一般都要求具有很高的可靠性，也就是说其平均故障时间非常长。但受限于研制时间和成本，不可能在卫星出厂前把所有的潜在问题都全部暴露出来，也不可能反复测试卫星的平均故障时间，每颗卫星都或多或少的带着点潜在问题上天。每颗卫星究竟要经历多长时间的测试和试验，才能出厂，行业内一直都没有一个定量的标准，只有一些定性的标准，如整星累计加电时间超过1000小时等，但具体为何是1000小时却没有理论依据。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，解决了整星可靠性预计与正样阶段的研制、测试和试验活动相脱节的问题，通过计算整星出厂可靠性问题筛选率来将可靠性与卫星正样阶段的研制活动关联起来。提供了一种小卫星出厂可靠性问题筛选率计算方法，根据对同类型多颗已发射小卫星在正样研制阶段的可靠性问题统计分析，得到小卫星出厂可靠性问题分布数据和可靠性问题分布公式，将卫星出厂前的正样阶段整星累计加电时间代入到可靠性问题分布公式中，计算卫星出厂的可靠性问题筛选率。本方法计算出的小卫星可靠性筛选率更能直观的表征卫星的生产可靠性，解决了可靠性预计存在的与卫星产品实际研制测试、试验活动相脱节的问题，能够为卫星研制和生产活动提供更为准确、真实、可靠的评价作用。

本发明目的通过以下技术方案予以实现：

一种小卫星出厂可靠性问题筛选率计算方法，包括如下步骤：

S1、针对已发射的同类型小卫星，以每颗卫星正样阶段整星起始加电时间作为零点，选取截止时间点T₀，获取所有同类型小卫星出现的可靠性问题及可靠性问题的发生时间；

S2、从零点到T₀，对所有同类型小卫星的可靠性问题的发生时段进行统计，获取不同时间段内的可靠性问题数量，然后绘制直方图；

S3、根据直方图，基于对数正态叠加分布假设，确定可靠性问题分布的数学模型，利用不同时间段内的可靠性问题数量对数据模型进行拟合，获得可靠性问题分布公式；

S4、统计任一待出厂同类型小卫星的整星累计加电时间，利用可靠性问题分布公式，获得该待出厂同类型小卫星的可靠性问题筛选率。

上述小卫星出厂可靠性问题筛选率计算方法，优选的，所述直方图为双波峰分布，第一波峰出现在研制测试过程，第二波峰出现在环境试验考核过程。

上述小卫星出厂可靠性问题筛选率计算方法，优选的，利用不同时间段内的可靠性问题数量，对数据模型进行拟合。

上述小卫星出厂可靠性问题筛选率计算方法，优选的，根据拟合获得的参数，获得可靠性问题分布公式。