[发明专利]图像处理方法及装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号: | 202010615414.0 | 申请日: | 2020-06-30 |
| 公开(公告)号: | CN111798393A | 公开(公告)日: | 2020-10-20 |
| 发明(设计)人: | 王东 | 申请(专利权)人: | 深圳市慧鲤科技有限公司 |
| 主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T7/246;G06T7/90 |
| 代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 熊永强;董文俊 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市前海深港合作区前*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 图像 处理 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种图像处理方法,其特征在于,所述方法包括:
获取第一待降噪图像,其中,所述第一待降噪图像包含第一类像素点;
对所述第一待降噪图像进行下采样处理,得到第一图像,其中,所述第一图像为连续图像,所述第一图像包含所述第一类像素点,且所述第一图像的分辨率与所述第一待降噪图像的分辨率的比值大于第一阈值;
对所述第一图像进行降噪处理,得到第二图像。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述第一待降噪图像进行下采样处理得到第一图像,包括:
将所述第一待降噪图像旋转第一角度得到第三图像,其中,所述第一角度为45度的奇数倍;
将第一像素坐标系的坐标轴刻度放大n倍得到第二像素坐标系,其中,所述第一像素坐标系为所述第三图像的像素坐标系;
依据所述第三图像中像素点的像素值确定所述第二像素坐标系下的各个像素点的像素值,得到所述第一图像。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述第一类像素点属于第一通道,所述第一待降噪图像还包括与所述第一通道不同的第二通道,所述方法还包括:
提取所述第一待降噪图像中的所述第二通道得到第四图像;
对所述第二图像进行上采样处理,得到第五图像,其中,所述第五图像的尺寸与所述第一待降噪图像的尺寸相同;
将所述第四图像和所述第五图像分别作为一个通道,合并所述第四图像和所述第五图像,得到第六图像。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在权利要求3引用权利要求2情况下,所述对所述第二图像进行上采样处理,得到第五图像,包括:
将所述第二图像旋转第二角度,得到第七图像,其中,所述第二角度为第三角度的终边相同角,所述第三角度与所述第一角度互为相反数;
将第三像素坐标系的坐标轴刻度缩小所述n倍得到第四像素坐标系,其中,所述第三像素坐标系为所述第七图像的像素坐标系;
依据所述第七图像中像素点的像素值确定所述第四像素坐标系下的各个像素点的像素值,得到所述第五图像。
5.根据权利要求1至4中任意一项所述的方法,其特征在于,所述第一待降噪图像包括:第一像素点、第二像素点、第三像素点、第四像素点;
所述第一像素点的坐标为(i,j),所述第二像素点的坐标为(i+1,j),所述第三像素点的坐标为(i,j+1),所述第四像素点的坐标为(i+1,j+1),其中,i、j均为正整数;
在所述第一像素点为所述第一类像素点的情况下,所述第二像素点、所述第三像素点均不是所述第一类像素点,且所述第四像素点为所述第一类像素点;
在所述第一像素点不是所述第一类像素点的情况下,所述第二像素点、所述第三像素点均为所述第一类像素点,且所述第四像素点不是所述第一类像素点。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述第一待降噪图像中像素点的排列方式为拜耳阵列。
7.一种图像处理方法,其特征在于,所述方法包括:
获取第二待降噪图像,其中,所述第二待降噪图像包含第二类像素点;
提取所述第二待降噪图像中的第三通道得到第八图像第三通道,其中,所述第三通道为所述第二待降噪图像中包含的像素点的数量最多的通道;
对所述第八图像进行下采样处理得到第九图像,其中,所述第九图像为连续图像,所述第九图像包含所述第二类像素点,且所述第九图像的分辨率与所述第二待降噪图像的分辨率的比值大于第二阈值;
对所述第九图像进行降噪处理,得到第十图像。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述对所述第八图像进行第二下采样处理得到第九图像,包括:
将所述第八图像旋转第四角度得到第十一图像,其中,所述第四角度为45度的奇数倍;
将第五像素坐标系的坐标轴刻度放大m倍得到第六像素坐标系,其中,所述第五像素坐标系为所述第十一图像的像素坐标系;
依据所述第十一图像中像素点的像素值确定所述第六像素坐标系下的各个像素点的像素值,得到所述第九图像。
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