[发明专利]一种芯片调试方法和系统

说明书

本申请公开了一种芯片调试方法，应用于设置了主时钟以及调试时钟的芯片中，包括：在接收到主时钟运行指令之后，基于主时钟运行芯片，且基于主时钟监控芯片的即时运行数据并存储至预设的存储区域中；在主时钟停止之后，基于调试时钟将当前监控到的芯片的即时运行数据存储至存储区域中；在接收到数据导出指令时，基于调试时钟将存储区域中的数据进行导出以进行芯片调试。应用本申请的方案，通过双时钟有效地获取到芯片的即时运行数据，实现芯片调试。本申请还提供了一种芯片调试系统，具有相应技术效果。

技术领域

本发明涉及调试技术领域，特别是涉及一种芯片调试方法和系统。

背景技术

随着芯片的发展，芯片的结构也越来越复杂，对硬件调试工作也就提出了更高的要求。在进行硬件调试时，困难在于芯片里面的不透明性。即出现问题的时候，芯片硬件不能像软件那样进行单步调试，不能查看内存情况，更不能设置断点把硬件停下来。

目前的方案主要是JTAG(Joint Test Action Group，联合测试工作组)方式实现芯片调试，这是一种基于扫描路径法的技术。这种方式只能够从芯片外部读取电路中的各个触发器的状态，通过简单的扫描链设计，来观察触发器是否正常工作。JTAG这种方式有设计简单的优势，但是每次读取的数据量很小，无法获得即时的数据，而在实际的调试时，随着芯片日益复杂，往往需要即时运行数据来实现调试。

综上所述，如何有效地获取到芯片的即时运行数据实现芯片调试，是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种芯片调试方法和系统，以有效地获取到芯片的即时运行数据实现芯片调试。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：

一种芯片调试方法，应用于设置了主时钟以及调试时钟的芯片中，包括

在接收到主时钟运行指令之后，基于所述主时钟运行所述芯片，且基于所述主时钟监控所述芯片的即时运行数据并存储至预设的存储区域中；

在所述主时钟停止之后，基于所述调试时钟将当前监控到的所述芯片的即时运行数据存储至所述存储区域中；

在接收到数据导出指令时，基于所述调试时钟将所述存储区域中的数据进行导出以进行芯片调试。

优选的，在所述主时钟停止之后，基于所述调试时钟将当前监控到的所述芯片的即时运行数据存储至所述存储区域中，包括：

在接收到主时钟停止指令之后停止所述主时钟的运行，基于所述调试时钟将当前监控到的所述芯片的即时运行数据存储至所述存储区域中。

优选的，在所述主时钟停止之后，基于所述调试时钟将当前监控到的所述芯片的即时运行数据存储至所述存储区域中，包括：

当所述芯片的运行出现故障时停止所述主时钟的运行，基于所述调试时钟将当前监控到的所述芯片的即时运行数据存储至所述存储区域中。

优选的，所述存储区域为板级片外存储装置中的存储区域。

优选的，基于所述主时钟监控所述芯片的即时运行数据并存储至预设的存储区域中，包括：

基于所述主时钟监控所述芯片的即时运行数据并存储至预设的存储区域中，且在存储时添加存储至所述存储区域中的数据的属性信息；

相应的，基于所述调试时钟将当前监控到的所述芯片的即时运行数据存储至所述存储区域中，包括：

基于所述调试时钟将当前监控到的所述芯片的即时运行数据存储至所述存储区域中，且在存储时添加存储至所述存储区域中的数据的属性信息。

一种芯片调试系统，应用于设置了主时钟以及调试时钟的芯片中，包括：