[发明专利]一种验证计划及报告的生成方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种验证计划及报告的生成方法、装置、设备及存储介质；本方案包括：根据验证计划中预先定义的属性及声明，设置不同验证计划与测试用例之间的映射关系，对测试用例在层次结构中进行等级划分生成划分结果；利用预先设定的配置文件对所有测试用例的测试结果进行分析生成测试用例的可视化报告。可见，本申请中的验证计划为利用HVP标准语法规则生成的，HVP是文本格式，可便于对验证计划进行版本维护；并且，本申请通过定义属性及声明，可实现自动生成映射关系及层级结构；在生成可视化报告时，可根据报告展示方式的需求，自定义设置配置文件，从而自动生成有利于项目管理的可视化报告。

技术领域

本发明涉及芯片验证技术领域，更具体地说，涉及一种验证计划及报告的生成方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

随着大规模集成电路系统设计的飞速发展，集成电路规模越来越大。芯片验证在芯片研发过程中所占的比率越来越重，同时芯片验证有着一整套完备的流程，从硬件系统定义贯穿到硅后测试部分。一般情况下，每一个项目在进行瀑布式开发时，验证团队也会在细分的流程中完成相应的任务，每一个验证节点都会进行一些重要检查点的回顾工作，所以验证周期也是一个不断反复、螺旋上升的过程。参见图1，为现有技术中模块功能验证完备周期示意图；该图罗列出了模块功能验证的各个关键点并使之成为一个周期，在验证周期中包含了多个检查点。

第一个检查点：验证计划的回顾。验证周期的起始点从创建验证计划开始，验证计划需要参照系统工程师给出的功能详述文档。接着验证人员开发验证环境，在创建验证环境的过程中，验证人员一般会邀请设计人员和系统人员一起回顾验证计划，确保验证计划没有明显的遗漏。

第二个检查点：验证代码检查。硬件设计经过一定数量的激励测试，验证人员就可以准备回归(regression)测试。回归测试在项目中期到项目开发后期是不断执行的，回归测试结果的分析对项目进度以及项目执行有着重要的作用。这个检查点的作用是通过对回归测试结果以及验证代码的回顾，发现遗漏的测试激励、不恰当的随机约束及代码结构的缺陷等。

第三个检查点：流片前验证完备性检查。一般这项检查验证管理者会根据checklist来将验证进度做量化的综合评定，最后判断是否完成验证任务。

上述只是针对模块验证的一个周期流程，对于大的SoC(System-on-a-Chip，系统芯片)芯片，模块验证阶段、子系统验证阶段、系统级验证阶段和最后的网表验证阶段等都需要验证经理整理大量的表格和图表去检查验证的状态，并对验证进度有合理的把控。

目前，针对大部分芯片公司验证报告生成流程存在以下问题：验证计划大部分采用excel，不利于版本的管理；结果提取及反标需要花费大量的时间，即使采用项目管理工具也需要按照规则导入相应的文件，模块、子系统及系统不能很好的区分。生成的报告无法直观反映验证瓶颈及个人进度，项目经理无法合理的分配人力资源，导致可定制化报告无法正常产生。

发明内容

本发明的目的在于提供一种验证计划及报告的生成方法、装置、设备及存储介质，以通过对验证计划的调整，生成可定制的可视化报告。

为实现上述目的，本发明提供一种验证计划及报告的生成方法，包括：

获取验证计划，所述验证计划为利用HVP标准语法规则生成，所述验证计划通过预先定义的属性描述测试用例，通过预先定义的声明描述验证计划的层次结构；

根据所述验证计划中预先定义的属性及声明，设置不同验证计划与测试用例之间的映射关系，并对测试用例在层次结构中进行等级划分生成划分结果；所述层次结构中的等级包括：系统级、子系统级和模块级；

运行测试用例对芯片进行测试后，利用预先设定的配置文件及所述映射关系、所述划分结果，对所有测试用例的测试结果进行分析，生成测试用例的可视化报告。

其中，所述获取验证计划之后，还包括：