[发明专利]一种设备测试方法、装置及计算机可读存储介质有效
申请号: | 202010611131.9 | 申请日: | 2020-06-30 |
公开(公告)号: | CN111781449B | 公开(公告)日: | 2023-06-06 |
发明(设计)人: | 李钰成 | 申请(专利权)人: | OPPO(重庆)智能科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;贾允 |
地址: | 401120 重庆*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 设备 测试 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种设备测试方法,其特征在于,包括:
控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试;
在所述目标被测设备的测试结果合格时,生成设备换位控制信号;
根据所述设备换位控制信号,控制移动机构将所述目标被测设备换位至所述测试工位。
2.根据权利要求1所述的设备测试方法,其特征在于,所述控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试包括:
获取传送至被测工位的目标被测设备的设备属性;
基于所述设备属性确定对应的目标测试模式;
控制测试工位的测试设备采用所述目标测试模式,对所述目标被测设备进行充放电性能测试;
或,获取测试工位的测试设备的性能指标;
基于所述性能指标确定对应的目标测试模式;
控制所述测试设备采用所述目标测试模式,对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试。
3.根据权利要求1所述的设备测试方法,其特征在于,所述生成设备换位控制信号之前,还包括:
基于所述目标被测设备的性能指标,判断所述目标被测设备是否满足预设的设备换位控制条件;
在满足所述设备换位控制条件时,执行所述生成设备换位控制信号的步骤。
4.根据权利要求3所述的设备测试方法,其特征在于,所述基于所述目标被测设备的性能指标,判断所述目标被测设备是否满足预设的设备换位控制条件包括:
判断所述目标被测设备的测试结果合格等级是否高于预设等级阈值;其中,在高于所述等级阈值时,满足所述设备换位控制条件;
或,判断所述目标被测设备的剩余电能是否高于预设电能阈值;其中,在高于所述电能阈值时,满足所述设备换位控制条件。
5.根据权利要求1所述的设备测试方法,其特征在于,所述控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试之后,还包括:
在所述目标被测设备的测试结果不合格时,生成设备隔离指示信号;
控制传送机构根据所述设备隔离指示信号对所述目标被测设备进行隔离处理。
6.根据权利要求5所述的设备测试方法,其特征在于,所述生成设备隔离指示信号包括:
获取所述目标被测设备的不合格属性;
基于所述不合格属性确定对应的设备隔离处理策略;
根据所述设备隔离处理策略对应生成设备隔离指示信号。
7.根据权利要求1至6中任意一项所述的设备测试方法,其特征在于,所述控制移动机构将所述目标被测设备换位至所述测试工位之后,还包括:
在使用所述目标被测设备对后续被测设备进行充放电性能测试时,对所述目标被测设备的测试有效性进行监控;
在所述测试有效性不达标时,控制所述移动机构将此前采用的所述测试设备复位至所述测试工位。
8.一种设备测试装置,其特征在于,包括:
测试模块,用于控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试;
生成模块,用于在所述目标被测设备的测试结果合格时,生成设备换位控制信号;
换位模块,用于根据所述设备换位控制信号,控制移动机构将所述目标被测设备换位至所述测试工位。
9.一种电子装置,其特征在于,包括:存储器、处理器及总线;
所述总线用于实现所述存储器、处理器之间的连接通信;
所述处理器用于执行存储在所述存储器上的计算机程序;
所述处理器执行所述计算机程序时,实现权利要求1至7中任意一项所述方法中的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时,实现权利要求1至7中的任意一项所述方法中的步骤。
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