[发明专利]一种光纤传感器解调装置本底噪声的测量方法

权利要求书

1.一种光纤传感器解调装置本底噪声的测量方法，其特征在于：选取任一光纤传感器进行解调装置本底噪声的测量，具体步骤为：

S1，光纤传感器解调装置对光纤传感器按照预先设计的采样率采样、解调；正常工作模式下，一个采样周期内，解调装置会对其所带的所有光纤传感器分别采样一次；而本底噪声测试模式下，在一个采样周期内，通过解调装置对某一个光纤传感器进行不小于2次采样，并分别完成后续解调，获得解调结果；

S2，对S1中获得的多个解调结果，依据时间顺序，选择相邻的两次解调结果做相减处理，获得数据A，这个数据A就是光纤传感器解调装置的本底噪声与这个传感器在一个采样周期内两次采样间隔时间T₀内的感应信号差的和；设定间隔时间T₀在一定时间内，数据A即为光纤传感器解调装置本底噪声的近似表征；再对数据A进行频谱分析，得到光纤传感器解调装置的本底噪声；

一个采样周期内两次采样之间的间隔时间T₀设置为小于100ns；

S1中，采样、解调数据时，设置总时长不小于10s，低于100s；

S1中，一个采样周期内对某个指定传感器连续采样时，采样n次，依次记为A1、A2……An，则视同n个物理传感器解调，获得虚拟的n个传感器的解调结果对应记为d1、d2……dn，n为正整数；

S2中，将前后相邻的解调结果依次相减，得到d2减d1、……、dn减d(n-1)，共计n-1组数据A，对这n-1组的本底噪声进行平均值处理，作为本次测量的本底噪声；

按照S1-S2步骤，得到多次测量光纤传感器解调装置的本底噪声，剔除方差大的样本，取方差相对集中的样本做平均值处理，作为光纤传感器解调装置的本底噪声。

2.根据权利要求1所述光纤传感器解调装置本底噪声的测量方法，其特征在于：一个采样周期内两次采样之间的间隔时间T₀设置为1ns~10ns。

3.根据权利要求1所述光纤传感器解调装置本底噪声的测量方法，其特征在于：S1中，采样、解调数据时，设置总时长设置为10s-35s。