[发明专利]利用电阻率进行快速增材制造的钛强度评估的方法

权利要求书

1.计算机实施的评估用于增材制造的材料强度的方法(200)，所述方法包括：

针对设定的位错密度，通过多个处理器来校准(202)多相增材材料的基线电阻率，作为相分数和相组成的函数，其中所述材料的各个相具有不同的电阻率值；

在增材制造过程中，在所述增材材料经历多个加热和冷却循环之后，通过多个处理器表征(206)所述增材材料的相分率、相组成和电阻率；和

根据增材制造后的电阻率，考虑到通过表征确定的相分数和相组成的影响，通过多个处理器确定(208)所述增材材料的位错密度。

2.权利要求1所述的方法，其中针对经过热处理(302)以将位错密度降低至指定的最小值的增材材料校准基线电阻率。

3.前述权利要求中任一项所述的方法，其中校准基线电阻率进一步包括确定(304)所述增材材料中的相分数和相组成。

4.权利要求1-2中任一项所述的方法，其中校准基线电阻率进一步包括确定(306)空位和堆叠故障对电阻率的贡献。

5.权利要求1-2中任一项所述的方法，其中使用以下至少一种来确定所述增材材料的相分数：

扫描电子显微照片(142)；

光学显微照片(144)；或

X射线衍射(146)。

6.权利要求1-2中任一项所述的方法，其中使用以下至少一种来确定所述增材材料的相组成：

电子色散光谱(152)；或

电感耦合等离子体光谱(154)。

7.权利要求1-2中任一项所述的方法，其中电阻率是利用多点接触探针欧姆计(130)确定的。

8.权利要求1-2中任一项所述的方法，其中所述增材材料包括钛合金。

9.用于评估增材制造的材料强度的系统(160)，所述系统包括：

总线系统(502)；

连接到所述总线系统的存储装置(508)，其中所述存储设备存储程序指令(518)；和

连接到所述总线系统的多个处理器(504)，其中所述多个处理器执行所述程序指令以：

针对设定的位错密度校准(202)多相增材材料的基线电阻率，作为相分数和相组成的函数，其中所述材料的各个相具有不同的电阻率值；

在增材制造期间，在所述增材材料经历多次加热和冷却循环后，表征(206)所述增材材料的相分数、相组成和电阻率；和

根据增材制造后的电阻率，考虑到通过表征确定的相分数和相组成的影响，确定(208)所述增材材料的位错密度。

10.权利要求9所述的系统，其中针对经过热处理(302)以将位错密度降低至指定的最小值的增材材料校准基线电阻率。

11.权利要求9-10中任一项所述的系统，其中通过所述处理器执行的用于校准基线电阻率的指令进一步包括确定(304)所述增材材料中的相分数和相组成的指令。

12.权利要求9-10中任一项所述的系统，其中通过所述处理器执行的用于校准基线电阻率的指令进一步包括用于确定(306)空位和堆叠故障对电阻率的贡献的指令。

13.权利要求9-10中任一项所述的系统，其中使用以下至少一种来确定所述增材材料的相分数：

扫描电子显微照片(142)；

光学显微照片(144)；或

X射线衍射(146)。

14.权利要求9-10中任一项所述的系统，其中使用以下至少一种来确定所述增材材料的相组成：

电子色散光谱(152)；或

电感耦合等离子体光谱(154)。

15.权利要求9-10中任一项所述的系统，进一步包括配置为确定电阻率的多点接触探针欧姆计(130)。