[发明专利]一种照度均匀度测试装置和方法

权利要求书

1.一种照度均匀度测试装置，其特征在于：包括检测板，所述检测板呈矩形，其上设置有矩形等距阵列分布的多个第一照度传感器，所述第一照度传感器的行数为M，列数为N，行距为a，列距为b；任意相邻的四个所述第一照度传感器所围成的区域内还设置有多个矩形阵列分布的第二照度传感器，每组所述第二照度传感器的行数为U，列数为V，行距为c，列距为d；所述检测板的第一行第一照度传感器上设置有一个光源标识点，所述光源标识点位于所述第一照度传感器阵列的对称线上；

一种照度均匀度测试方法，包括以下步骤：

(1)将检测板平铺；

(2)将灯具光源水平布置，灯具光源中心点的垂向投影与光源标识点重合；

(3)将灯具打开照明15分钟以上；

(4)所有的第一照度传感器和第二照度传感器同时检测各自所在节点的照度值；

(5)计算检测板的照度均匀度极差值U₁；

(6)计算检测板的照度均匀度均差值U₂；

(7)计算检测板的整体照度均匀度W；

(8)计算检测板的局部照度均匀度Z；

(9)将U₁和U₂与标准要求进行比较，将W和Z与标准要求进行比较，从而评估灯具的照度均匀度；

所述步骤5的具体算法为：

U₁＝Emin/Emax

其中，Emin为第一照度传感器的最小照度，Emax为第一照度传感器的最大照度，单位均为勒克斯；

所述步骤6的具体算法为：

U₂＝Emin/Eav

其中，Emin为第一照度传感器的最小照度，Eav为第一照度传感器的平均照度，单位均为勒克斯，且Eav＝(1/M*N)∑W_i,j，W_i,j为第i行、第j列的第一照度传感器所检测的照度，且1≤i,j≤M；

所述步骤7的具体算法为：

W＝W_ref/W_i,j

其中，W_ref为光源标识点的照度，W_i,j为第i行、第j列的第一照度传感器所检测的照度，且1≤i,j≤M；

所述步骤8的具体算法为：

Z＝W_p/W_q

其中，W_p为任意组第二照度传感器所检测的照度最大值，W_q为与W_p同组的第二照度传感器所检测的照度最小值；

所述步骤9的照度均匀度评估办法为：

U₁≥0.5；

U₂≥0.7；

W＜2；

0.65≤Z≤0.85。