[发明专利]一种接触电阻测试装置及测试方法、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种接触电阻测试装置，其特征在于，包括：

衬底；

位于所述衬底上的相同尺寸的若干根导电栅线，所述导电栅线沿第一方向延伸，且所述若干根导电栅线沿第二方向排布，相邻所述导电栅线之间的间距沿所述第二方向上增加；

位于所述若干根导电栅线上的导电条，所述导电条与所述若干根导电栅线连接。

2.根据权利要求1所述的接触电阻测试装置，其特征在于，所述导电条的材料与光伏组件产片中粘接电池片的导电胶相同，所述导电栅线的材料与所述光伏组件产片中电池片的银栅线相同。

3.根据权利要求1所述的接触电阻测试装置，其特征在于，相邻所述导电栅线之间的间距大于或等于2mm且小于或等于20mm。

4.根据权利要求1所述的接触电阻测试装置，其特征在于，所述导电条的厚度大于或等于0.1mm且小于或等于0.5mm。

5.一种接触电阻测试装置的测试方法，其特征在于，所述接触电阻测试装置包括：衬底；位于所述衬底上的相同尺寸的若干根导电栅线，所述导电栅线沿第一方向延伸，且所述若干根导电栅线沿第二方向排布，相邻所述导电栅线之间的间距沿所述第二方向上增加；位于所述若干根导电栅线上的导电条，所述导电条与所述若干根导电栅线连接；

该测试方法包括：

采集相邻所述导电栅线之间的电阻；

根据相邻所述导电栅线之间的电阻和间距，计算得到所述导电条与所述导电栅线的接触电阻率。

6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，根据相邻所述导电栅线之间的电阻和间距，计算得到所述导电条与所述导电栅线的接触电阻率，包括：

根据相邻所述导电栅线之间的电阻和间距，拟合电阻～间距方程；

根据所述电阻～间距方程的截距，计算得到所述导电条与所述导电栅线的接触电阻及接触电阻率。

7.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，还包括：

根据相邻所述导电栅线之间的电阻和间距，计算得到所述导电条的体电阻率。

8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，根据相邻所述导电栅线之间的电阻和间距，计算得到所述导电条的体电阻率，包括：

根据相邻所述导电栅线之间的电阻和间距，拟合电阻～间距方程；

根据所述电阻～间距方程的斜率，计算得到所述导电条的体电阻及体电阻率。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序，

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求5～8中任一所述的接触电阻测试装置的测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求5～8中任一所述的接触电阻测试装置的测试方法。