[发明专利]一种除尘头在审
| 申请号: | 202010581149.9 | 申请日: | 2020-06-23 | 
| 公开(公告)号: | CN111774379A | 公开(公告)日: | 2020-10-16 | 
| 发明(设计)人: | 徐崇友 | 申请(专利权)人: | 深圳赋元软件有限公司 | 
| 主分类号: | B08B7/00 | 分类号: | B08B7/00;B08B13/00;G01N21/94;G01B11/00;G01B11/02;G01B11/06;G01B11/14;G01F23/00 | 
| 代理公司: | 深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙) 44325 | 代理人: | 谭果林 | 
| 地址: | 518000 广东省深圳市龙华*** | 国省代码: | 广东;44 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 除尘 | ||
本发明提供了一种除尘头,所述除尘头包括除尘本体和粘尘液附着在所述除尘本体上而干燥形成的粘性半固体部,用户使用该除尘头去除灰尘后不易在被清洁的被检测面产生新的污染物且对粘性灰尘的清除效率高。
技术领域
本发明属于除尘技术技术领域,更具体地说,是涉及一种除尘头。
背景技术
电子元器件和光学元件在生产组装的过程中,通常需要对电子元器件和光学元件进行表面外观检测。表面外观检测通常是检测电子元器件的表面和光学元件的表面是否有瑕疵、脏污、划痕、裂纹、破损、灰尘、指纹、水印、wire bond异常和die bond异常等表面外观问题。当电子元器件的表面和光学元件的表面被检查到灰尘时,还需要对具有灰尘的电子元器件的表面和具有灰尘的光学元件的表面进行清洁。现有的灰尘清除装置通常采用湿法清洗方法或吹气清洁方法实现对电子元器件的表面和光学元件的表面进行清洁。湿法清洗方法和吹气清洁方法在清洗的过程中会将具有灰尘的电子元器件和不具有灰尘的电子元器件放在一起清洁,或将具有灰尘的光学元件和不具有灰尘的光学元件放在一起清洁,容易导致原本不具有灰尘的电子元器件的表面被污染和不具有灰尘的光学元件的表面被污染,另外,湿法清洗方法和吹气方法对粘性灰尘的清除效率较低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种除尘头,解决现有技术中存在的湿法清洗方法和吹气清洁方法容易导致不具有灰尘的表面被污染和对粘性灰尘的清除效率低的技术问题。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:提供一种除尘头,所述除尘头包括除尘本体和粘尘液附着在所述除尘本体上而干燥形成的粘性半固体部。
进一步地,所述除尘头包括除尘本体,各所述除尘头还包括除尘本体,所述除尘本体均包括固定板和粘杆,所述粘杆的一端固定在所述固定板上,所述粘性半固体部位于所述粘杆的另外一端。
进一步地,所述除尘本体包括固定杆,所述固定杆的一端固定在所述固定板上,所述粘杆的一端固定在所述固定杆背离所述固定板的一端上,所述粘杆的长度方向沿着所述固定杆的长度方向,所述粘杆的另一端位于所述固定杆外,所述粘尘液部位于所述粘杆的另外一端上。
进一步地,所述粘性半固体部的厚度设为:在所述粘杆背离所述固定杆的一端部竖向朝下时,所述粘性半固体部的最低点到所述粘杆背离所述固定杆的一端部的距离。
进一步地,所述粘性半固体部的厚度设为0.1mm-3mm。
进一步地,所述粘性半固体部的宽度设为:在所述粘杆背离所述固定杆的一端部竖向朝下时,所述粘性半固体部的两侧之间的最长的距离。
进一步地,所述粘性半固体部的宽度设为:0.2mm-3mm。
进一步地,所述粘杆与所述固定板一体设置。
进一步地,所述粘杆设为金属针或树脂针。
本发明提供的一种除尘头的有益效果在于:与现有技术相比,用户使用该除尘头去除灰尘后不易在被清洁的被检测面产生新的污染物且对粘性灰尘的清除效率高。
附图说明
图1为本发明实施例一提供的一种灰尘清除装置的结构示意图;
图2为本发明实施例一提供的一种灰尘清除装置的送料装置的结构示意图二;
图3为本发明实施例一提供的被检测物的结构示意图;
图4为本发明实施例一提供的一种灰尘清除装置的表面检测视觉装置的结构示意图;
图5为本发明实施例一提供的一种灰尘清除装置的表面检测视觉装置的另一结构示意图;
图6为本发明实施例一提供的一种灰尘清除装置的辊轮传送装置的结构示意图;
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